硬件案例分析
文章平均质量分 80
roostnew
这个作者很懒,什么都没留下…
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掉电存储错误及设计优化案例分析
仪表产品的掉电设计完整设计,电容维持时间计算。原创 2022-03-31 19:47:39 · 757 阅读 · 0 评论 -
以太网眼图测试整改案例分析
网口 眼图 测试 整改 分析眼图测试需要再设计时就加以关注, 还是不难通过的。原创 2020-11-04 09:35:52 · 5309 阅读 · 2 评论 -
EFT试验复位案例分析
本案例描述了晶振屏蔽以及开关电源变压器屏蔽对系统稳定工作的影响, 硬件设计时应考虑。原创 2020-05-22 09:21:02 · 3999 阅读 · 0 评论 -
iMX28X 上电不启动 案例分析
再多电源系统中,对上电时序的处理尤为重要。本案例中,按照手册中推荐的电路及器件参数,还是会出现问题。原创 2020-03-10 09:03:44 · 1459 阅读 · 3 评论 -
am3352偶发上电不启动问题分析
am3352 RAM 虚焊导致运行不稳定原创 2020-02-14 10:00:02 · 1502 阅读 · 0 评论 -
Mbus总线低温丢包问题分析及解决
本文分析了Mbus总线常温工作正常,低温下丢包的问题。 并给出了解决方案及设计要点。原创 2019-08-23 16:25:41 · 771 阅读 · 0 评论 -
AMS1117-3.3电源芯片损坏分析
I.问题现象背景:NTS-240GS V1.20三相导轨式预付费电能表是一款精度可达0.5S级,接线方式下进下出的仪表,在NTS-240GS V1.20设计中,电源需要两路直流输出,1路12V/300mA,1路5V/100mA,其中,这一路12V又有以下几种用途,1:供继电器驱动;2:12V通过78L05转为5V供液晶驱动使用;3:12V通过AMS117-3.3电源芯片转为3.3V供CPU/E...原创 2020-01-14 09:29:46 · 16859 阅读 · 0 评论 -
LPC17XX RTC 跑偏分析
设计时每个功能都需严格测试验证后方可宣传。切忌先宣传后使用原创 2020-08-17 21:25:36 · 577 阅读 · 2 评论 -
EFT测试78L05损坏分析及解决方案
本文详细分析了EFT试验异常原因及整改方法。采用高频高阻抗的磁珠消耗EFT的能量是一种有效的方法。 但是该措施并不随磁珠的增加而效果更好。原创 2020-11-04 09:39:13 · 3825 阅读 · 0 评论 -
开关电源芯片LM2954L出现批次差异的原因分析
本案例说明: 使用功率大的芯片替换小功率芯片也不是完全就高枕无忧,一样需要仔细验证后方可使用原创 2019-08-29 16:08:25 · 484 阅读 · 0 评论 -
高低温通讯丢帧率高问题分析
问题现象:40块NTS-220GS V1.10仪表挂接400米总线进行高低温通讯测试时,部分仪表出现无法通讯的情况,导致通讯丢帧率高。问题分析原理图:通过对上面原理图部分进行计算,发送为1时,光耦管压降为1.3V左右,则BR33部分电流为2ma,光耦传输比为200-400,高温环境下,传输比会降到40%(下右图为光耦的传输比及温度曲线),即0.8,光耦CE电流为1.6ma,BR37上电压...原创 2020-04-03 17:25:39 · 1063 阅读 · 1 评论 -
继电器驱动设计方案及问题分析
本文分析了电容储能进行继电器驱动的设计及器件参数选项,通过对比,验证选出合适方案。原创 2019-08-19 16:02:02 · 1470 阅读 · 0 评论 -
Opt分区变只读问题分析
本分析 确定了ubifs文件系统中 OPT文件夹变为只读的问题。确定原因并给出解决方案, 经测试确定修改方案有效。原创 2019-07-25 11:07:46 · 784 阅读 · 2 评论 -
静电导致CPU死机
本文档描述了设计中复位引脚的上电时序的重要性,若不满足可能造成严重的后果原创 2019-07-22 11:30:01 · 1792 阅读 · 0 评论 -
M-BUS短路保护方案设计
对外接口的短路防护,异常情况下不影响设备其它工作的运行。能极大的增强系统的健壮性。原创 2020-04-03 17:32:20 · 1219 阅读 · 0 评论 -
RN8215芯片 32768Hz晶体停振案例分析
32768Hz钟表晶体再使用过程中, 需要特别确认分布电容对晶体振荡电路的影响。芯片设计时需对引脚的集成电容进行合理设计,避免出现晶振停振现象。原创 2019-08-08 11:24:19 · 926 阅读 · 0 评论