汽车电子EMC测试：怎么快速定位引起发射超标的干扰源？|深圳比创达EMC

汽车电子零部件EMC测试超标时有发生，发射测试的超标经常困扰着现场跟进的工程师们，电磁发射看不见摸不着，怎么快速定位引起发射超标的干扰源？

汽车电子零部件EMC发射测试包含CTE（电源线瞬态传导发射），MFE（低频磁场发射）CE（传导发射）-AN（电压法）和CP（电流法）以及RE（辐射发射）四项，

下面我们来一一解析：

汽车电子发射测试项目

1．CTE测试超标

CTE测试的超标一般由内部大功率的磁性器件引起，如电机的线圈，电磁铁的线圈、滤波电路中的大功率电感等，这些部件在关闭的瞬间会产生很强的瞬态脉冲。

CTE测试超标数据

2．MFE测试超标

MFE测试的超标一般由内部大功率的磁性器件引起，如电机的线圈，电磁铁的线圈、新能源部件中的大功率感性部件等，这些部件在工作时会产生的低频磁场干扰。

MFE测试超标数据

3．CE测试超标

CE测试中的超标一般由开关电源和地处理不良引起，测试数据中的窄带骚扰引起超标一般为开关电源引起，宽带骚扰超标一般由地处理不良引起。

开关电源模块引起的AN测试超标-窄带骚扰

地处理不良引起的CP测试超标-宽带骚扰

4．RE测试超标

RE测试中的低频超标一般由开关电源和地处理不良引起，高频超标一半为内部时钟或晶振的处理不良引起倍频超标，这些信号会有很强的规律，很容易区分。

开关电源模块引起的RE测试超标

晶振/时钟引起的RE测试超标

地处理不良引起的RE测试超标

以上就是小编给您们介绍的汽车电子EMC测试：怎么快速定位引起发射超标的干扰源的内容，希望大家看后有所帮助！