分立器件参数测试
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tianshili029
这个作者很懒,什么都没留下…
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晶体管正向偏置安全工作区测试系统ST-FBSOA_X
陕西天士立科技有限公司/ST-FBSOA/晶体管正向偏置安全工作区测试系统,可以测试Si,SiC,GaN,材料的器件级和模块级的IGBT,MOSFET的FBSOA(正向偏置安全工作区)。安全工作区设备包括“正向偏置安全工作区FBSOA”“反向偏置安全工作区RBSOA”“短路安全工作区SCSOA”原创 2024-04-18 21:06:35 · 1086 阅读 · 0 评论 -
半导体分立器件静态参数测试系统STD2000
半导体分立器件静态参数测试系统脉冲信号源输出方面,高压源标配1400V(选配2KV),高流源标配100A(选配40A,200A,500A)栅极电压40V,栅极电流100mA,分辨率最高至1.5uV / 1.5pA,精度最高可至0.1%。程控软件基于Lab VIEW平台编写,填充式菜单界面。采用带有开尔文感应结构的测试插座,自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降,保证测试结果准确可靠。产品可测试 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs, DIODEs, MOSFETs, BJTs, SCRs原创 2024-02-26 18:53:26 · 1777 阅读 · 1 评论