10M高速光耦测试方法

代表型号:6N137

1. 确定被测光耦类型

6N137属于输出端属于逻辑门,故测试它在触发后输出的低电平VOL是否为OK

2. 测试线连接

测试原理图

由下图可以看出,测试6N137需要用到2个电流源和一个电压源,此处我并没有在8脚跟5脚处接一个0.1uF的去耦电容,后续如果想测试它的IFT时这个电容是必须要加上的。

 

测试连线实物图:

 

连线说明
2
3
8
5
6
红笔 6
黑笔 5

3. 参数设定

信号发生器:左通道 10mA,  右通道电压输出5V,电流输出10mA

万用表:直流2V档位

4. 进行测试

放入材料

5. 判定标准

由下图我们可以看出,电压小于0.6V即为 OK   

 

测试实例:

以6N137为例,测试条件输入端IF=10mA,输出端IO=10mA,VCC=5V

我们可以看到,实际测试值VOL为0.3V 小于0.6V,故判断为OK

 

 

晶体管输出光耦测试方法

达林顿输出光耦测试方法

可控硅输出光耦测试方法

1M高速光耦测试&高速达灵顿系列测试方法

施密特触发器输出光耦测试方法

IGBT驱动光耦测试方法

  • 0
    点赞
  • 1
    收藏
    觉得还不错? 一键收藏
  • 0
    评论
评论
添加红包

请填写红包祝福语或标题

红包个数最小为10个

红包金额最低5元

当前余额3.43前往充值 >
需支付:10.00
成就一亿技术人!
领取后你会自动成为博主和红包主的粉丝 规则
hope_wisdom
发出的红包
实付
使用余额支付
点击重新获取
扫码支付
钱包余额 0

抵扣说明:

1.余额是钱包充值的虚拟货币,按照1:1的比例进行支付金额的抵扣。
2.余额无法直接购买下载,可以购买VIP、付费专栏及课程。

余额充值