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IC开短路测试(open_short_test)又叫continuity test 或contact test,它是一种非常快速发现芯片的各个引脚间的是否有短路，及在芯片封装时是否missing bond wires.通常都会被放测试程序的最前面.它还能发现测试时接触是否良好，探针卡或测试座是否有问题.开短路测试的测试原理比较简单，分open_short_to_VDD 测试和open_short_to_VSS测试.一般来说芯片的每个引角都有泄放或说保护电路,芯片内部保护电路。是两个首尾相接的二极管,一端接V

1 存储器芯片测试　　存储器芯片是在特定条件下用来存储数字信息的芯片。存储的信息可以是操作代码，数据文件或者是二者的结合。根据特性的不同，存储器可以分为以下几类，如表1所示。　　2 存储器术语的定义　　在讨论存储器芯片测试之前，有必要先定义一些相关的术语。　　写入恢复时间（Write Recovery Time）：一个存储单元在写入操作之后到能正确读取之前这中间必须等待的时间。　　锁存时间（Hold Time） :输入数据电平在锁存输入时钟之后必须保持的时间间隔。　　数据保存时间（Pause