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设计计数器

一、DFT概念：可测试性设计狭义理解：是指在芯片开发中的前端设计里增加为后期的ATE测试所准备的测试逻辑。 用于控制或产生测试向量，达到自动测试的目的。广义理解：不仅包括为自动化测试所设计的测试逻辑 ，还涵盖了测试向量的产生，测试结果的分析等。二、DFT存在的意义筛选出出错的芯片：open/break 定位错误位置 提高工艺，提高良率。浴盆曲线.png故：不能实现质量的100%。三、功能性测试 pk DFTDFT pk 功能性测试.png测试的三个阶段：越早发...

一、概念　　建立时间和保持时间都是针对触发器的特性说的。　　时序图如下：建立时间（Tsu：set up time）　　　　是指在触发器的时钟信号上升沿到来以前，数据稳定不变的时间，如果建立时间不够，数据将不能在这个时钟上升沿被稳定的打入触发器，Tsu就是指这个最小的稳定时间。保持时间（Th：hold time）　　　　是指在触发器的时钟信号上升沿到来以后，数据稳定不变的时间，如果保持时间不够，数据同样不能被稳定的打入触发器，Th就是指这个最小的保持时间。输出相应时间（Tc

ROM（Read Only Memory，只读存储器）芯片：在微机的发展初期，BIOS都存放在ROM芯片中。ROM内部的资料是在ROM的制造工序中，在工厂里用特殊的方法被烧录进去的，其中的内容只能读不能改，一旦烧录进去，用户只能验证写入的资料是否正确，不能再作任何修改。如果发现资料有任何错误，则只有舍弃不用，重新订做一份。ROM是在生产线上生产的，由于成本高，一般只用在大批量应用的场合。PRO