STM32 ADC转换异常原因探索

背景

• STM32L496
• ADC1，采集2路（2个通道）信号，多通道扫描模式连续采集，采样频率1M，定时器触发，DMA搬运数据。
• ADC2，采集3路（3个通道）信号，多通道扫描模式连续采集，采样频率4K，定时器触发，DMA搬运数据。

  出现的异常，某些设备在连续不断采集过程中，AD采集的结果一直保持为一个固定的值，不随外部输入电压的改变而改变。

设备做静电冲击测试时，也出现这种情况。

原因分析（怀疑点）

根据DATASHEET的介绍和线上产品运行的情况，分析总结出如下可疑点。

1. 参考电压波动
2. 参考地受灌入电流冲击
3. ADC设置的采样时间太少
4. 信号输入处阻抗太大
5. 电源电压不稳定

1. 参考电压波动

参考电压波动，这是第一个被怀疑的点，为了确定参考电压的波动，对AD转换的结果有较大影响，做了如下实验：

在程序运行过程中，将Vref+ 短暂瞬时的短接到地，这时可以观察到和线上产品一样的现象，采集到了大量失真数据，大量数据的值相同，AD结果严重错误。同时，这种错误是可以在Vref+ 恢复后自动消失的。

实验证明，要使得ADC转换结果正确，必须保证Vref+长期稳定。

2. 参考地受灌入电流冲击