《嵌入式-STM32开发指南》第二部分基础篇 - 第13章 CRC

最新推荐文章于 2024-09-04 02:25:07 发布

Bruceoxl

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分类专栏：《嵌入式》STM32开发指南文章标签： CRC STM32

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本文介绍了嵌入式开发中STM32的CRC校验原理，包括基本概念、计算方法和错误检测。STM32硬件CRC模块使用生成多项式0x04C11DB7，提供了简便的CRC计算。文中还阐述了CRC在STM32中的应用及寄存器描述，并提供了简单的CRC代码实现。

摘要由CSDN通过智能技术生成

13.1 CRC的校验原理

循环冗余校验(CRC)计算单元是根据固定的生成多项式得到任一32位全字的CRC计算结果。在其他的应用中， CRC技术主要应用于核实数据传输或者数据存储的正确性和完整性。标准EN/IEC 60335-1即提供了一种核实闪存存储器完整性的方法。 CRC计算单元可以在程序运行时计算出软件的标识，之后与在连接时生成的参考标识比较，然后存放在指定的存储器空间。那么首先来看看CRC校验原理。

13.1.1基本原理

CRC检验原理实际上就是在一个p位二进制数据序列之后附加一个r位二进制检验码(序列)，从而构成一个总长为n＝p＋r位的二进制序列；附加在数据序列之后的这个检验码与数据序列的内容之间存在着某种特定的关系。如果因干扰等原因使数据序列中的某一位或某些位发生错误，这种特定关系就会被破坏。因此，通过检查这一关系，就可以实现对数据正确性的检验。

 几个基本概念
1、帧检验序列FCS（Frame Check Sequence）：为了进行差错检验而添加的冗余码。
2、多项式模2运行：实际上是按位异或(Exclusive OR)运算，即相同为0，相异为1，也就是不考虑进位、借位的二进制加减运算。如：10011011 + 11001010 = 010100