你不可不知的FOD异物检测

最新推荐文章于 2024-06-26 16:11:31 发布

江湖剑客

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货收藏丨你不可不知的FOD异物检测

伏达半导体

专注电源管理芯片及方案的设计与创新[公众号：nuvolta]

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FOD异物检测，目前无线充电行业还没有一个统一的检测标准。伏达半导体的工程师经过系统整理，撰写本文，希望对从事充电设计的工程师有所帮助，帮助大家在进行FOD检测时，做到更精准、更高效，这样设计出的产品才能让用户更放心，也欢迎大家留言交流、分享。

1 什么是FOD?

FOD即异物检测，是英文Foreign Object Detection的缩写，应用在无线充电过程中，为避免意外来物导致系统温升过高的一种技术检测手段。

无线充电不同于有线充电，后者物理硬连接后才可以工作，而无线充电是通过磁场将独立的两个物体进行连接，因此路径中有可能存在异物。如果异物是金属等导体，那么在交变的磁场中势必会产生感应电动势，在导体内部形成感应电流，而此时金属相当于一个电阻，由此高热产生，引发危害。

因此FOD技术在无线充电应用中必不可少，并且相当重要。

举个例子。

图1：有无FOD检测保护

左图中，充电发射端(Transmitter，以下简称TX)带FOD功能，当放置一枚硬币后，TX通过FOD检测，判断有异物后，退出充电模式。

右图中，TX不带FOD功能，当放置一枚硬币后，TX不会因为异物存在而停止发射磁场，硬币在TX持续建立的交变磁场中产生涡流发热，很容易引发事故。

2 FOD的几种检测方式

异物检测的方式有很多，比如可以通过检测Power loss和Q值等等。

Qi协议中，只对无线充电中接收端(Receiver, 以下简称RX)的温升做了规定，认证实验室中测试规定：RX温升不得超过环境温度的12°。但其并未规定必须使用何种方式来实现，目前普遍方案如下表所列：

表1：FOD检测方式

2.1 什么是Power Loss 检测？

图2：PLOSS检测工作原理图

*Note:

PLOSS = 300 mW is an appropriate threshold value for limiting heating of Foreign Objects

如图，TX通过计算PLOSS来判断是否发生FOD，

其中：

①PPT = PIN - PPTLOSS，PIN等于输入功率，PPTLOSS为TX端所有的必要传输损耗功率，包括不限于初级线圈和电容的等效阻抗，逆变电路和PCB走线等产生的功耗，TX端金属器件产生的涡流损耗和系统功耗等。

②PPR = POUT + PPRLOSS, POUT等于输出功率，PPRLOSS为RX端所有的必要传输损耗功率，包括不限于次级线圈和电容的等效阻抗，整流电路和PCB走线等产生的功耗，RX端金属器件产生的涡流损耗和系统功耗等。

采用Power Loss方式检测异物是否存在，其可靠性主要依赖TX和RX报的功率是否准确。考虑到一些不可测因素，比如自由度影响，不同负载下TX和RX上报的功率有个offset，能量部分发散到空气中等，为了防止TX误报FOD，通常RX端上报的Preceived = PPR + PΔ，其中PΔ作为对前述因素的补偿。

这表明当TX表面没有异物时，RX报的功率总是等于或比TX的传输功率PPT大。根据输出功率大小的不同，PΔ也不同，其值一般取最大输出功率的5%，Qi中推荐的PΔ值如下表：

表2：PΔ推荐值

该方案的优点是在功率传输过程中可以实时检测FOD，但它也有缺点。由于PPT和PPR分别是由TX和RX端各自估算的，那么即使在没有异物存在的情况下也有可能存在系统性偏差，影响TX的FOD准确性。

举个例子，没有异物时，理想情况下TX端计算的发射功率PPT为5W, RX端计算的接收功率PPR也等于5W，但由于检测和估算误差，TX端实际PPT为5.1W (或4.9W), RX端实际PPR等于4.9W (或5.1W)，那么PLOSS就由标准的0偏到200mW (-200mW），原本有300mW的裕量变为100mW (500mW)，降低了系统的容差阈值。此时如果TX放宽其阈值会导致异物检测不灵敏，收缩阈值又可能发生误检测。

2.1.1 功率校准

为了提高power loss检测方法的有效性，TX端可采用功率矫正方式来解决其系统偏差问题，但功率矫正的前提是TX表面无异物，该问题可通过下节Q值检测来判断有无异物。

根据上节介绍，系统偏差跟传输功率等级有关，理想情况下，应在输出功率的全范围内分段校准，但由于该方法不好实现，所以采取一个折中的方案：在calibration阶段，TX和RX会根据 “light” load 和 “connected” load各自确定自己的输出和接收功率，基于这两种负载状态，TX可采用如下线性插值方法来校准输出或接收功率。

2.2 Q值检测

Q值是衡量电感器件的主要参数，是指电感在某一频率的交流电压下工作时，其呈现的感抗与等效损耗电阻之比，Q值越高，电感器损耗越小。TX线圈的Q值会受外部环境影响，比如当其表面有其他金属时，那么就会导致TX线圈的电感减小，而等效阻抗增加，所以Q值就会减小。

Qi的EPP协议里规定，TX在negotiation phase必须包含Q值检测功能，以此判断表面是否有异物。为了确保TX能正确判断出Q值减小的原因是RX线圈还是异物导致的，RX应通过0x22包提供一个参考Q值给TX，TX再根据该值确定出合理的Q值裕量，最终与实测值比较，判断是否存在异物。

图3：Q值判断

Q值检测的方式有多种，Qi中提供了一种测量方案，但并未对其做限定，下图为Qi的参考方案。如图所示，左侧是检测电路的原理图，除了线圈外，它还包括1个正弦电压源和1个谐振电容。在选择谐振电容时应结合电路的合理工作范围，确定谐振频率后再选择。此例中谐振频率为100kHz，线圈的Q值等于线圈两端的有效电压值与驱动电源的有效电压值之比，即Q=V2/V1。