透过散射介质的成像matlab,基于解卷积透过散射介质大视场成像恢复方法

1. 引言

一直以来，光学成像都是人类采集事物信息的重要手段之一，但是如何克服散射影响进行光学成像恢复仍然是限制人类社会活动的重要科学问题 [1] 。科学家经过不懈的努力，提出了多种克服散射影响的成像恢复方法，包括自适应光学技术，波前整形，相位共轭，传输矩阵法，散斑相关 [2] 等。其中，散斑相关因为采用非相干光照明，光路结构较为简单，成像恢复结果好等优点被广泛地研究应用于通过散射介质成像恢复领域中。散斑相关包括解自相关方法和解卷积方法。Bertolotti等和Katz等分别实现了非侵入式的散斑相关成像，利用解自相关方法实现了通过单帧散斑非侵入式的成像恢复 [3] [4] 。然而，解自相关方法忽略了散射系统的点扩展函数这一特征，而点扩展函数在一定的范围里满足线性平移不变性，我们可以把天文光学和显微成像领域的解卷积技术应用于散斑相关方法中，这就形成了散斑相关的解卷积方法。2016年，周建英等提出将解卷积技术应用于薄散射体后的成像恢复中，得到了实时、彩色、超分辨的恢复结果 [5] 。

解卷积和解自相关方法都基于散斑相关这一原理 [6] [7] ，但前者成像恢复具有更好的恢复质量，更高的信噪比和更快的恢复速度等优点，因此，在散射系统点扩散函数已知的情况下，我们通常采用解卷积的方法来实现通过散射介质成像恢复。散斑相关成像所依赖的物理基础和关键是光学记忆效应，而光学记忆效应范围通常比较小。对于大视场的物体来说，是超出单个记忆效应范围的。为了解决这个问题，本文提出了基于不同区域点扩散函数的去相关性和不同区域散斑的独立获取的方法。实验结果表明，两种方法对于大视场物体的散射成像恢复效果良好，重建细节清晰。

2. 散斑相关物理基础和解卷积原理

2.1. 光学记忆效应

散斑相关成像技术的物理基础和依赖的关键是光学记忆效应。Feng和Freund等研究表明：当前后两束光束入射到散射介质同一位置上，且入射角差很小时，探测器上接收的散斑仅仅是对应入射角方向整体平移了一段距离，这种现象被称为光学记忆效应。光学记忆效应的范围可以通过计算散斑之间的相关函数来获得，表达式为：

C

(

q

L

)

=

[

q

L

/

sinh

(

q

L

)

]

2 (1)

其中，q = 2π∆θ/λ，λ为入射光的波长，∆θ为转动角度，L为散射介质的厚度。记忆效应的有效角度范围随着散射介质厚度的增加而减小，最大角度∆θ约为λ/2πL。而当目标物体和散射介质距离确定时(设为u)，目标尺寸∆x满足：

Δ

x

u

≈

2

Δ

θ (2)

由于∆θ最大为λ/2πL，因此在散射成像中，目标物体的尺寸局限于：

Δ

x

≤

u

λ

π

L (3)

图1为光学记忆效应范围的示意图。

Figure 1. Schematic diagram of the range of optical memory effects

图1. 光学记忆效应范围示意图

2.2. 解卷积法原理

由于光学记忆效应的存在，散射介质所在光学系统可以看作是具有移位不变性的点扩散函数(PSF)的非相干成像系统。在记忆效应范围里，整个成像过程可以表示为散射成像系统的PSF和物体光强分布的卷积，可以由下式表示：

I

(

x

i

,<