计算机控制技术实训1,计算机控制技术课内实验指导书

实验一并行接口应用，一，1，2，二，1，2，三，实验一时，实验二时，四，1，2，对于程序DELAY:，MOV R0，DELAY1:，MOV R1，DJNZ R1，DJNZ R0，查指令表可知MOV，((0B3＋1)×256＋1)×2×12÷11059200＝100，五，程序框图：，TP1A，实验二D/A转换实验，一，编写程序，二，1，2，3，三，CS0832接F218，四，D/A转换是把数字量转化成模拟量的过程，五，实验示例程序见配套盘片中的0832W A VE，实验三A/D转换实验，一，利用实验板上的ADC0809做A/D转换器，二，1．掌握A/D转换与单片机的接口方法，2．了解A/D芯片ADC0809转换性能及编程，3．通过实验了解单片机如何进行数据采集，三，CS0809接F230，四，ADC0809是八位逐次逼近法A/D转换器，本示例程序采取了中断处理来正确读取A/D转换的结果，五，实验示例程序见配套盘片中的PAD，实验示例程序流程框图如下：，INT_0子程序框图，PAD。

实验要求，P1口做输出口，P1口做输入口，实验目的，学习P1口的使用方法，学习延时子程序的编写和使用， 实验电路及连线，P1，P1，实验说明，P1口是准双向口，延时子程序的延时计算问题，#00H，#0B3H，$，DELAY1，DJNZ 指令均需用两个机器周期，002mS，实验框图，ASM主程序框图TP1B，实验要求，使D/A转换模块循环输出锯齿波和三角波，实验目的，了解D/A转换的基本原理，了解D/A转换芯片0832的性能及编程方法，了解单片机系统中扩展D/A转换的基本方法，实验电路及连线，用示波器探头测量○9模块的VOUT孔，实验说明，本实验输出为模拟电压信号，实验程序框图，ASM，实验要求，利用实验板上的电位器W1提供模拟量输入，实验目的，实验电路及连线，○26模块电位器中心抽头Wout(即0~5v) 孔接至ADC0809的IN0(通道0)，实验说明，每采集一次一般需100us，用户也可以用延时来保证A/D 转换完成，实验程序及框图，ASM，ASM主程序框图。

接八只发光二极管，接八个拨动开关，0-P1，0-P1，它作为输出口时与一般的双向口使用方法相同，而一个机器周期时间长度为12／11，ASM主程序框图，观察显示波形，本次实验生成的波形较为简单，编制程序，EOC连P3，中断方式下，读取结果由P1口送至八位发光二极管显示。

编写程序，使发光二极管循环点亮，以实验机上74LS273做输出口，编写程序读取开关状态，7接L0-L7，7接K0-K7，PO0-PO7接L0-L7，由准双向口结构可知当P1口作为输入口时，必须先对它置高电平使内部MOS管截止，0592MHz，所以该段程序执行时间为：，有兴趣者可试编程序生成各种波形，如方波，将模拟量转换成二进制数字量，用发光二极管显示，2(INT0)，将单片机的P1，A/D 转换结束后会自动产生EOC信号，经一级74LS14反相后与8031的INT0相接。

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实验一并行接口应用

一.实验要求

1.P1口做输出口，接八只发光二极管，编写程序，使发光二极管循环点亮。

2.P1口做输入口，接八个拨动开关，以实验机上74LS273做输出口，编写程序读取开关状态，将此状态，在发光二极管上显示出来。

二.实验目的

1.学习P1口的使用方法。

2.学习延时子程序的编写和使用。

三. 实验电路及连线

实验一时，P1.0-P1.7接L0-L7。

实验二时，P1.0-P1.7接K0-K7，PO0-PO7接L0-L7。CS273接第○7模块地址译码的F200。

四.实验说明

1.P1口是准双向口。它作为输出口时与一般的双向口使用方法相同。由准双向口结构可知当P1口作为输入口时，必须先对它置高电平使内部MOS管截止。因为内部上拉电阻阻值是20KΩ~40KΩ，故不会对外部输入产生影响。若不先对它置高，且原来是低电平，则MOS管导通，读入的数据是不正确的。

2.延时子程序的延时计算问题

对于程序DELAY:

MOV R0，#00H

DELAY1:

MOV R1，#0B3H

DJNZ R1，$

DJNZ R0，DELAY1

查指令表可知MOV，DJNZ 指令均需用两个机器周期，而一个机器周期时间长度为12／11.0592MHz，所以该段程序执行时间为：

((0B3＋1)×256＋1)×2×12÷11059200＝100.002mS

五.实验框图

程序框图：

TP1A.ASM主程序框图TP1B.ASM主程序框图

实验二D/A转换实验

一.实验要求

编写程序，使D/A转换模块循环输出锯齿波和三角波。

二.实验目的

1.了解D/A转换的基本原理。

2.了解D/A转换芯片0832的性能及编程方法。

3.了解单片机系统中扩展D/A转换的基本方法。

三.实验电路及连线

CS0832接F218。用示波器探头测量○9模块的VOUT孔，观察显示波形。

四.实验说明

D/A转换是把数字量转化成模拟量的过程，本实验输出为模拟电压信号，本次实验生成的波形较为简单，有兴趣者可试编程序生成各种波形，如方波，正弦波等，也可与键盘显示模块结合起来，构成一个简单的波形发生器，通过键盘输入各种参数，如频率，振幅(小于+5V)，方波的占空比等。

五.实验程序框图

实验示例程序见配套盘片中的0832W A VE.ASM。

实验三A/D转换实验

一.实验要求

利用实验板上的ADC0809做A/D转换器，利用实验板上的电位器W1提供模拟量输入。编制程序，将模拟量转换成二进制数字量，用发光二极管显示。

二.实验目的

1．掌握A/D转换与单片机的接口方法。

2．了解A/D芯片ADC0809转换性能及编程。

3．通过实验了解单片机如何进行数据采集。

三.实验电路及连线

CS0809接F230。○26模块电位器中心抽头Wout(即0~5v) 孔接至ADC0809的IN0(通道0)。EOC连P3.2(INT0)。将单片机的P1.0~P1.7接至八位发光二极管L0 – L7。

四.实验说明

ADC0809是八位逐次逼近法A/D转换器，每采集一次一般需100us。中断方式下，A/D 转换结束后会自动产生EOC信号，经一级74LS14反相后与8031的INT0相接。

本示例程序采取了中断处理来正确读取A/D转换的结果。用户也可以用延时来保证A/D 转换完成。读取结果由P1口送至八位发光二极管显示。

五.实验程序及框图

实验示例程序见配套盘片中的PAD.ASM。

实验示例程序流程框图如下：

INT_0子程序框图

PAD.ASM主程序框图