世界上最小的高精度扫描测头—SP25

新型SP25M扫描测头，采用创新性的Renscan技术，具有极大的灵活性的同时保持了良好的扫描性能。作为创新一代的产品，SP25M集两种测头为一身，可通过扫描进行形状的评价，同时通过触发测量，完成尺寸和位置的测量。

凭借25 mm的直径，SP25M能够固定在机械式关节测座，如 PH10M，并可配备PEM系列加长杆，从而能够触测到较深的特征。

具有一整套内部可更换扫描测头模块，能够连接从20 mm到 200 mm长的探针。同所有的RENISAHW扫描测头一样，

SP25M具有动态探针更换功能以及碰撞保护功能。

更大的灵活性还表现在SP25M模块化的设计，允许Renishaw TP20测头能够连接以执行触发测量，从而可使用在不需要扫描和进行离散点的采集的场合下。

SP25M的直径仅为25 mm，配备一系列扫描及触发模块，是超小型多用途扫描测头系统。

SP25 是一种高速度，高精度，小尺寸的接触式连续扫描测头。它与 PH10 测头连接，可旋转
角度； 该扫描测头主要运用于箱体件，模具/检具的扫描，它是自由曲面的检测和数字化的
理想工具。

扫描测头每秒能够采集几百个表面点，可以测量形状、尺寸和位置。

扫描测头也可用于采集离散点，与触发式测头类似。

SP25M由两个测头组成，包含在同一个外壳中。用户可在五个扫描模块（可安装长度从20 mm至400 mm的M3测针）以及一个与雷尼绍TP20系列测头模块兼容的转接模块之间进行切换。这一功能可实现利用一个测头系统进行扫描和触发式测头测量。SP25M小巧的尺寸和自动吸附安装功能使之与PH10M PLUS/PH10MQ PLUS和PH6M测座兼容。它还可安装在自动吸附的多芯加长杆上。同时，这些组合具有理想的测量能力，可检测各种零件特征。

扫描原理

扫描测量提供了一种从规则型面工件或复杂工件上高速采集形状和轮廓度数据的方法。

触发式测头可采集表面离散点，而扫描系统则可获取大量表面数据，提供更详细的工件形状信息。因此，在实际应用中，如果特征形状是整体误差预算的重要考量因素，或者必须对复杂表面进行检测，那么扫描测量可谓理想之选。

扫描测量需要在测头设计、机器控制和数据分析方面采用一种完全不同的方法。

雷尼绍扫描测头独具特色的轻巧无电源机构（无马达或锁定机构），具有高固有频率，适合高速扫描测量。独立的光学测量系统直接（无需通过测头机构中的叠加轴）测量测针的偏移量，以获得更高的精度和更快的动态响应。

SP25携带最长探针及最大有效工作范围

SP25M模块和测针吸盘

利用SP25M的一系列模块组件，用户能够随着时间的推移增强测头测量能力。

每一种SM25-#扫描模块在增益和弹簧刚性方面都经过优化处理，可适应规定的测针长度范围。每一种模块都有相匹配的SH25-#测针吸盘。

SH25-3和SH25-4测针吸盘是一根固定的碳纤维杆，上面安装M3测针，可提供合适的工作长度。

同时，SP25M在使用 SM25-1/2/3/4/5扫描模块和原装标准测针吸盘 (SH25-1/2/3/4/5) 时，可以安装曲柄式（非直式）测针配置；但是在需要较大偏置的应用场合，为了实现理想测量性能，雷尼绍建议使用SH25-2A/3A/4A系列测针吸盘，该系列测针吸盘专用于解决此类测针组合可能带来的问题。

SP25性能指标

特性与优点

超小型扫描测头，直径仅为25 mm配有两个FCR25三端口装置的MRS

SP25M配用一系列FCR25模块交换系统，每个系统都可将各个SP25M系统元件存储在每个库位中。

SM25扫描模块和TM25-20 TTP模块转接头可直接存储在FCR25库位中

SH25扫描测针吸盘需要使用PA25-SH转接头

TP20模块可使用PA25-20转接头存放

优异的测量性能 — 独立的光学传感和三次多项式补偿

五个模块在各种测针长度（长达400 mm）范围内均可实现理想的性能

二合一测头 — 扫描和触发

防碰撞保护功能，测针交换简单

快速简便的测头标定循环程序

适用于轮廓和形状测量

适用于机动可重复定位测座，灵活性更强，扫描循环时间更短

设计简洁、刚性好、可靠性更高 — 无马达或锁定机构

原创作者: u_14941238 转载于: https://blog.51cto.com/u_14941238/11632341