adt matlab 加速退化,【原创】加速寿命试验与加速退化试验的区别

原标题：【原创】加速寿命试验与加速退化试验的区别

随着可靠性水品的不断提高，出现了许过高可靠性、长寿命的产品，如高可靠性的航天电子产品，其使用寿命和贮存寿命都比较长，要获得此类产品的寿命数据，对其可靠性进行评估，用传统的基于概率统计理论的传统可靠性试验通常会需要较长的试验时间或很大的试验样本，且传统可靠性试验方法在工程上亦很难实现。

为缩短试验周期，减少试验费用，人们迫切需要在较短时间内获得产品的可靠性信息，因此，产品的加速退化试验(Accelerated Degradation Testing，ADT)与加速寿命试验(Accelerated Life Testing，ALT)作为可靠性加速试验技术的两大重要组成部分，日益受到国内外研究者的广泛关注。

ADT是指通过提高应力水平来加速产品性能退化，采集产品在高应力水平下的性能退化数据，并利用这些数据来估计产品可靠性及预测产品在正常应力下的寿命时间的加速试验方法。

ADT、ALT均能确定产品的可靠性及寿命，其基本前提是试验过程中产品失效机理不能改变，特别是最高应力水平下不能改变其失效机理，其应力的选择都是在技术规定的范围内，试验的周期通常较长，一般要数周到数月。另外，两者基本思想是一致的，都是通过加大试验应力来加速产品的退化或失效。

ADT与ALT两者研究对象不同，ADT的研究对象是具有性能退化数据的产品，ALT研究对象是具有失效寿命数据的产品。ADT只能研究退化性的失效模式，ALT除可以研究退化性的失效模式之外还可以研究突发性的失效。另外，两者目的不同，ADT的目的是找出产品性能退化如何发生、何时发生的，并在保持失效机理不变的条件下，