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基于单片机控制的光强测试器的设计
作者:刘会巧
来源:《数字技术与应用》
2017
年第
08
期
摘要:本文以
ATmega8
单片机作为控制中心,通过使用光敏电阻对光的灵敏度设计光强
测试器。该仪器可以实现测试不同等级的光照强度,并能够显示光照等级,并对无光状态进行
报警的功能。
关键词:单片机;光敏电阻;光照强度;等级
中图分类号:
TP316.2
文献标识码:
A
文章编号:
1007-9416
(
2017
)
08-0003-02
光强测量器与人们的生活密切相关,不同的场所对于照度的要求不同,如果没有合理控制
好照度,会直接影响生产和生活,甚至影响到健康和安全,所以有必要对不同的场所利用光强
测试器进行光强测量控制。因此本文通过用单片机设计结合光敏电阻进行对光强测试器的设
计。
1
系统设计方案
1.1
设计目的
本文的设计目的是光强测试器能够测试不同的光照强度等级,并显示出光强等级,对无光
状态进行报警。
为了实现此功能,我们需要
AVR
单片机,需要光敏电阻实现测试光