1、在无外力作用下,浮置闸(Floating Gate)里的电子没有足够能量逃离存储单元底部的二氧化硅层,浮置闸(Floating Gate)里的电子不会发生变化,则数据稳定。
2、存储单元中用来绝缘的二氧化硅层会随时间推移而损耗,对MLC NAND闪存来说通常可以保存10年。
3、半导体的导电性受温度影响严重,随着环境温度身高,电子会更快地从浮置闸(Floating Gate)中逃离,导致存储单元的电压状态改变,导致数据不可读。在不通电状态下SSD要达到JEDEC规定的数据保存率,消费级SSD是30°C温度下1年,企业级是40°C下三个月。
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SSD擦写寿命问题
在“写数据”和“擦除数据”过程中,电子需要通过二氧化硅层流入或流出浮置闸(Floating Gate),随着电子流入或流出,用来绝缘的二氧化硅层(10nm左右厚度)的院子键会被一点一点破坏掉,随着电子会慢慢占据二氧化硅层,会抵消掉施加在控制闸上的电压,导致需要更高电压才能完成数据存取操作,而高电压又使得氧化物更快被击穿,当整个二氧化硅层被电子贯穿后,该存储单元便无法继续使用。
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SLC MLC TLC介绍
SLC(Single-Level Cell),每个存储单元存放1bit信息,将浮置闸里电子捕获状态分为有和无,对应二进制数据0和1。
MLC(Multi-Level Cell),每个存储单元存放2bit信息,将浮置闸里电子捕获状态分为高、中、低、无四种状态,对应二进制数据00、01、10、11。
TLC(Triple-Level Cell),每个存储单元存放3bit信息,将浮置闸里电子捕获状态分为8种状态,对应二进制数据000到111。
对应相同面积的芯片,每个存储单元所占空间相同,每个存储单元存放的信息量决定整个芯片的信息量,因此TCL的容量相对要远高于SLC的容量。
相对于SLC仅存放2中状态,MLC/TCL的每个存储单元需要存放4种/8种状态,使得每次“写数据”和“擦除数据”都需要更多流入和流出更多电子,导致二氧化硅绝缘层的使用寿命(擦写次数)较低。
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内存颗粒等级
当用于NAND Flash的内存颗粒被生产出来后,会根据其质量来决定用途:
1、质量好的用来做最高等级的同步颗粒
2、能被修复的用来做次等级的同步颗粒
3、质量较差的用来做低等级的异步颗粒
同步颗粒与异步颗粒主要是两个管脚的不同,同步模式下颗粒随时处于Ready状态,能减少一个时钟周期。
英特尔 25nm颗粒的分级表:
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摘抄自:https://www.cnblogs.com/Christal-R/p/7246415.html
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