adc0832对光电二极管进行数据采集_光电器件IV特性测试

光电响应通常是激光二极管、探测器性能的一种非常普遍和重要的特性。光电响应测试主要指对发光器件和光探测器进行测试，单独的探测器像 PIN和 APD二极管测试系统比较简单，通常光电IV测试主要指针对激光二极管或光电探测器件的测试。LD 测试阶段主要分为 Bar 测试、Chip 测试和Burn-in测试，不同的生产阶段需要搭配不同的测试设备来完成测试。

根据激光二极管工作原理，通常使用电流源来驱动二极管工作，产生光的同时用光功率计测量光功率来完成IV特性测试。

光电探测器测试是通过控制光源，然后再使用电流表测量探测器上的电流信号，为了测量器件的响应时间，往往需要非常快的采样率的电流表来测量光电器件响应电流的上升沿，所以对电流表的采样速度要求很高由于大量数据需要后期处理，所以常常需要通过软件程控系统中的源表以及测试附件完成快速、精准的参数测试和数据采集

光电器件IV特性测试系统主要由精密源测量单元SMU、积分球探测器、探针台、光源以及系统软件组成，系统结构简单、精度高、可靠性好、速度快，提高生产效率的同时也增加了测试精度和可靠性，另外也降低了测试成本。其系统可分为光电二极管测试和光电探测器测试两部分

1. 光电二极管测试

    光电二极管测试主要由双通道源精密源测量单元、积分球探测器、夹具及软件组成。源表的一个通道作为光电二极管的电流驱动源同时监测正向导通压降 V 和工作电流 I，光电二极管激发出来的光经由积分球转化成光电流采用源表的2通道测量，根据积分球探测器功率电流转换系数乘以源表二通道实际测得的电流值计算出实际对应的光功率。光电二极管测试参数包括驱动电流电流 I、正向压降 VF、光功率 Po、阈值电流 Ith、拐点 IKink、背光电流Idark 等参数

2. 光电探测器测试

光电探测器测试主要由双通道精密源测量单元、探针台、光源以及软件组成，使用双通道源测量单元的1通道在器件上施加电压信号，然后高速采集流过器件的电流值，其最高采样间隔可达到100us(10000点/s)。源测量单元的2通道对光源供电，可通过对输出电压编进，来实现不同的输出电平来控制光源输出波形，也可设置为脉冲模式，以获得脉冲式的光信号，再通过1通道高速采样来获得器件的光响应电流的实时对应波形。系统链接框图如下

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