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RSS订阅原创 光电二极管PD简易测试方案
光电二极管（Photo-Diode）是由一个PN结组成的半导体器件，具有单方向导电特性。光电二极管是在反向电压作用之下工作的，在一般照度的光线照射下，所产生的电流叫光电流。
2024-07-25 16:18:16
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原创 数字源表表征及测试纳米材料高温原位方案
该方案主要针对纳米材料温差器件，在不同温度激励下，测试其输出电压以及输出电流数据。如下图所示，整套测试系统构成包括，1台S系列源表、温度控制器，待测器件、测试连接线以及上位机软件组成测试电路。采用两电极测试方法对器件的输出电压进行测试，将源表的高低电势夹头连接于器件输出端，随着温度的变化，在数字源表中获得开路电压或者输出电流数据。
2024-07-03 15:09:40
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原创 功率半导体测试挑战及应对方案详解
传统测试系统的搭建，通常需要切换测试仪表和器件连接方式才能完成功率器件I-V和C-V整体参数测试，而PMST功率器件静态物数测试系统内置专用开关矩阵，根据测试项目自动切换电路与测量单元，同时可灵活定制各种夹具，从而可以实现I-V和C-V全参数的一键化测试。只需要设置好测试条件，将器件故置在测试夹具中，就可以帮助您快速高效且精准的完成测试工作。
2024-05-09 16:27:12
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原创 如何用数字源表快速表征二维材料电性能参数？
源于超薄的厚度引起的量子限域效应，使得二维材料在透明电极、光电探测器、气敏电阻、太阳能电池等领域得到广泛应用。霍尔效应及电阻率是表征纳米材料电性能的重要手段之一。SMU数字源表集合电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载的功能于一身，广泛用于各类精密器件的测量。支持四象限工作，可作为源或负载
2024-05-08 14:36:49
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原创 如何用数字源表快速扫描纳米发电材料电性能？
纳米发电机的性能主要通过其输出的峰值电流、峰值电压和峰值功率进行评估，但是机械的拉伸和冲击碰撞运动都是在短时间内完成，如果测试仪器的采样率不足，就很难准确测到电压或者电流峰值。普赛斯S\P系列源表支持四象限模式，可作为负载吸收能量;
2024-04-10 14:59:58
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原创 数字源表四探针法测试水凝胶电导率
对于离子型导电水凝胶，普赛斯P系列源表可提供最窄200us脉冲测试电压或电流，消除因直流电场弓|起的离子聚集问题的影响。
2024-04-01 11:12:38
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原创 如何用SMU数字源表测试apd管的暗电流
在APD的光电特性中，暗电流是一个重要的参数。暗电流是指在没有光照射的情况下，APD中由于热激发等原因导致的电子漂移和电子-空穴对产生而产生的电流，暗电流测试的准确性对于评估APD的性能和稳定性非常重要
2024-03-15 14:02:56
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原创 基于插卡式源表的MPPT并行老化测试方案
MPPT并行老化测试插卡式源表完全自主知识产权,支持脉冲和直流双模式；具有通道密度高、同步触发功能强、多设备组合效率高等特点,普赛斯目前推出了1003CS支持3插卡和1010CS支持10插卡的两款主机，用户可针对实际情况选择不同子卡实现Z优性价比搭配。使用10插卡主机时，可实现高达40通道的配置
2024-02-28 16:08:34
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原创 太阳能电池片量子效率检测系统构成及主要功能
在太阳能电池光电性能测试中，量子效率包含着太阳能电池光电转换能力等许多信息。它不但能反映太阳能电池内各层材料的质量，也能反映减反膜、辐照损伤和各个界面层的质量，量子效率检测系统构成及主要功能介绍
2024-02-22 15:40:01
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原创 脉冲电流源测试旁路二极管热性能方案
旁路二极管：是指并联于太阳能电池板正负极两端之间的二极管，旁路二极管的质量直接影响着光伏电站的发电量及使用安全，旁路二极管热性能测试脉冲电流源输出脉冲边沿陡（最小100ns）,测试效率高。
2024-02-21 14:16:55
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原创 基于数字源表的多通道轮询IV测试方案
钙钛矿太阳能电池是利用钙钛矿结构材料作为吸光材料的太阳能电池，属于第三代薄膜电池的代表,太阳能电池最重要的衡量标准是光电转换效率（PCE），具体的性能参数包括有：填充因子（FF），开路电压（VOC）和短路电流（JSC）等。
2024-02-20 15:29:14
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原创 如何攻克钙钛矿太阳能电池电性能测试技术壁垒？
钙钛矿太阳能电池在性能测试中的迟滞现象会严重影响器件效率的测定，产业化I-V测试面临着巨大的挑战，传统的测试方案存在明显局限。因此，标准化的性能参数评价、精准的稳定性测试以及符合使用场景的测试方法将有效的推进钙钛矿太阳能电池的规模化、产业化发展。
2024-01-23 13:45:47
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原创 高精度源表+探针台—打造微电子器件材料测试系统
在半导体材料和器件的研究中，电性能测试是必不可少的环节。随着半导体技术的提升，微电子工艺逐渐复杂，如何对微电子材料器件进行高效率测试成为业内关注的重点。普赛斯仪表陆续推出多型号国产化数字源表SMU，为进一步打通测试融合壁垒，打造闭环解决方案，通过对半导体高端测试装备上下游产业链的垂直整合，晶圆级微电子材料器件测试系统应运而生!
2024-01-19 14:51:24
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原创 基于SMU数字源表的微电子和集成电路实训平台系统方案
普赛斯仪表致力于为高校打造芯片及功率器件测试平台，提高学生动手实践能力，利用迅速革新的产品解决方案，帮助学生在实践中捕获、测量、分析和模拟芯片、器件世界
2023-12-21 15:59:24
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原创 功率半导体器件CV测试系统
半导体功率器件C-V测试系统主要由源表、LCR 表、矩阵开关和上位机软件组成。LCR 表支持的测量频率范围在 0.1Hz~1MHz，源表(SMU)负责提供可调直流电压偏置，通过矩阵开关加载在待测件上。
2023-11-24 13:32:35
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原创 半导体电学特性IV+CV测试系统—1200V半导体参数分析仪
SPA-6100半导体参数分析仪可以帮助用户根据测试需要，灵活选配测量单元进行升级。产品支持Z高1200V电压、100A大电流、1pA小电流分辨率的测量，同时检测10kHz至1MHz范围内的多频AC电容测量
2023-11-21 13:55:26
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原创 霍尔电流传感器如何进行可靠性测试？主要应用在哪些领域？
在霍尔电流传感器的研发、使用过程中,需要对器件进行可靠性测试，主要包含零点、线性度、误差等静态测试项，带宽、响应时间、噪声等动态测试项，以及温度漂移测试等，这些参数的测试对于判断霍尔电流传感器的性能是否稳定可靠、分析其工作机制、验证其工作性能以及指导器件选型使用具有重要的意义。
2023-11-10 15:02:21
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原创 基于SMU源表搭建的高校微电子教学实训平台
基于SMU源表搭建的高校微电子教学实训平台为学生提供丰富的教学资源以及贴近现实的产业环境，支撑集成电路相关课程的教学与实训，且能进行项目开发和师资培训，打造集成电路人才培养实践中心，以培养高层次的工程实践能力强的毕业生，提高院校整体教学实力
2023-10-12 14:11:46
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原创 高电压+大电流 IGBT静态参数测试解决方案
IGBT静态测试系统大电流模块：50us—500us 的可调电流脉宽，上升边沿在 15us(典型值)，减少待测物在测试过程中的发热，使测试结果更加准确
2023-09-15 15:29:12
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原创 为什么叫源表？源表是如何四象限工作的？
“源”为电压源和电流源，“表”为测量表；“源表”即指一种可作为四象限的电压源或电流源提供精确的电压或电流，同时可同步测量电流值或电压值的测量仪表。（恒流源时测电压，恒压源时测电流）
2023-08-25 13:24:28
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原创 S系列数字源表为何如此受欢迎？
S系列数字源表为何如此受欢迎？ S系列数字源表可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载，其高性能架构允许其使用作为波形发生器、以及自动电流-电压(I-V)表征系统。极大缩短测试系统的开发、建立和维护的时间，同时节省测试架或测试台的宝贵“空间”，降低购买测试系统的整体成本。
2023-08-07 16:04:49
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原创 普赛斯携集成电路产教融合解决方案亮相第七届集创赛颁奖典礼并作主旨演讲
第七届全国大学生集成电路创新创业大赛半导体测试分赛区信诺达杯七大赛区选拔赛于2023年7月22日落地武汉理工大学，普赛斯仪表副总经理王承受邀出席，并在他的演讲《产教融合推动高校集成电路测试人才培养》中分享了基于SMU数字源表的芯片及功率器件测试平台。
2023-07-27 15:52:48
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原创 VCSEL器件的常见参数有哪些？如何测试？
由于VCSEL具有阈值电流低、工作波长稳定、光束质量好、易于一维和二维集成等优点,在光通信、激光显示、光存储、消费电子等领域得到了广泛应用。VCSEL在窄脉冲情况下的峰值功率、工作电流、工作电压、转化效率、近远场光学特性等参数对于芯片供应商、封装服务商、模组集成商等都非常重要。
2023-07-19 15:52:48
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原创 GaN HEMT主要性能指标有哪些？宽禁带材料电性能测试方案
SMU集电压源、电流源、电压表、电流表以及电子负载等多种功能于一体。此外，SMU还具有多量程，四象限，二线制/四线制测试等多种特性。一直以来，SMU在半导体测试行业研发设计，生产流程得到了广泛应用。同样，对于氮化镓的测试，高性能SMU产品也是不可少的工具。
2023-07-06 15:38:33
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原创 大功率半导体激光器芯片如何老化？
虽然大功率半导体激光器应用广泛，但由于单颗芯片出光功率大，单位面积产生的热量大，如果不做好散热技术，将直接影响半导体激光器的寿命和可靠性。那么我们该如何正确的进行测试呢?
2023-06-28 16:53:23
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原创 数字源表如何选型？不妨“挖一挖”
数字源表也称为源测量单元(SMU),集数字万用表、电压源、电流源、电子负载以及脉冲发生器、波形发生器等功能于一体，同时可精确限流保护器件不受损坏。在功率半导体测试，光电子器件研究、晶体管检定等方面被广泛应用，可以简化测试系统，提高测试效率，不知道怎么选择SMU?不妨来“挖一挖”。
2023-06-06 16:00:33
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原创 后摩尔时代，洞见第三代功率半导体器件参数测试的趋势和未来！
2022年，全球半导体产业连续高增长，进入调整周期。与此形成对比，在新能源汽车、光伏、储能等需求带动下，第三代半导体产业保持高速发展，全球化供应链体系正在形成，竞争格局逐步确立，产业步入快速成长期。而国内第三代半导体产业经过前期产能部署和产线建设，国产第三代半导体产品相继开发成功并通过验证，技术稳步提升，产能不断释放，国产碳化硅(SiC）器件及模块开始“上机”，生态体系逐渐完善，自主可控能力不断增强，整体竞争实力日益提升。
2023-05-30 15:02:26
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原创 影响SiC MOSFET阈值电压不稳定的因素有哪些？如何应对？
围绕第三代宽禁带半导体静态参数测试中的常见问题，如扫描模式对SiCMOSFET 阈值电压漂移的影响、温度及脉宽对SiC MOSFET 导通电阻的影响、等效电阻及等效电感对SiC MOSFET导通压降测试的影响、线路等效电容对SiC MOSFET测试的影响等多个维度，针对测试中存在的测不准、测不全、可靠性以及效率低的问题，普赛斯提供一种基于国产化高精度数字源表（SMU）的测试方案，具有更优的测试能力、更准确的测量结果、更高的可靠性与更全面的测试能力。
2023-04-25 14:41:46
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原创 如何用数字源表快速扫描光电器件或材料的电性能参数？
光电器件和材料的研究和应用中，电性能表征是关键性的环节之一。实施分立器件特性参数分析的最佳工具就是数字源表。数字源表作为独立的电压源或电流源,可输出恒压、恒流、或者脉冲信号,还可以当作表,进行电压或者电流测量;支持Trig触发,可实现多台仪表联动工作;针对光电器件单个样品测试以及多样品验证测试,可直接通过单台数字源表、多台数字源表或插卡式源表搭建完整的测试方案。
2023-04-11 16:48:22
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原创 窄脉冲LIV测试系统的典型应用有哪些？
窄脉冲LIV测试系统由PL系列脉冲恒流源、测试夹具、积分球、光纤、光谱仪等组成。有输出电流脉冲窄、输出脉冲电流大、支持脉冲光峰值功率检测、支持激光器电压测量等功能。输出脉冲宽度最小可至1uS，输出最大脉冲电流30A。
2023-03-31 14:18:11
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原创 数字源表如何测试半导体分立器件电性能？
半导体分立器件电性能测试是对待测器件施加电压或电流,然后测试其对激励做出的响应,通传统的分立器件特性参数测试需要几台仪器完成,如数字万用表、电压源、电流源等。实施半导体分立器件特性参数分析的最佳工具之一是“五合一”数字源表(SMU)，集多种功能于一体。
2023-03-17 13:25:05
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原创 国产数字源表在压力传感器电阻测量上的应用
压力传感器Ⅳ特性测试需要几台仪器完成，如数字表、电压源、电流源等。然而，由数台仪器组成的系统需要分别进行编程、同步、连接、测量和分析，过程既复杂又耗时，还占用过多测试台的空间。而且，使用单一功能的测试仪器和激励源还存在复杂的相互间触发操作，有更大的不确定度及更慢的总线传输速度等缺点。 实施I-V特性分析的最佳工具之一是数字源表(SMU）。数字源表作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载。其高性能架构还允许将其用作脉冲发生器，波形发生器和自动电流-电压(I-V)特性分析系统
2023-03-06 16:36:32
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原创 国产数字源表在三极管性能测试上面的应用
三极管特性曲线是反映三极管各电极电压和电流之间相互关系的曲线，是用来描述三极管工作特性曲线，常用的特性曲线有输入特性曲线和输出特性曲线，国产数字源表可以快速的扫描它的I-V曲线
2023-02-28 15:05:08
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原创 高精密数字源表的发展史
源表，又叫做SMU(Source MeasureUnit)源测量单元，1989年出生，如今已过而立之年，以不可更改的姿态走过了一段峥嵘岁月。时隔八年，国产化数字源表的发展虽然较为缓慢，但得益于巨大的市场需求驱动，众多高端仪器设备厂家纷纷入局，国产化源表呈现“百花齐放”的态势。
2023-02-21 15:48:59
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原创 数字源表在二极管特性参数分析中的应用
实施半导体分立器件特性参数分析的最佳工具之一是数字源表（SMU）。数字源表可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载，其高性能架构还允许将其用作脉冲发生器、 波形发生器和自动电流-电压(I-V)特性分析系统，支持四象限工作。
2023-02-15 13:47:58
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原创 CP系列脉冲恒压源IV测试忆阻器
支持多设备触发实现器件的脉冲IV扫描等；支持输出脉冲时序（如延迟、脉宽、周期等参数变量等）调节，可输出复杂曲线。主要特点有：脉冲电流大，Z高可至10A；脉冲宽度窄，最小可低至100ns；支持直流、脉冲两种电压输出模式；支持线性，对数，以及自定义多种扫描工作方式
2023-01-03 14:44:44
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原创 数字源表如何测试MOS管？
MOSFET可以由硅制作，也可以由石墨烯，碳纳米管 等材料制作，是材料及器件研究的热点。主要参数有 输 入 / 输 出 特 性 曲 线、阈 值 电 压 VGS(th)、漏 电 流 IGSS、 IDSS，击穿电压VDSS、低频互导gm、输出电阻RDS等
2022-12-06 16:28:21
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原创 数字源表如何助力miniled光电性能测试
实施Mini LED光电特性参数分析的最佳工具之一是数字源表（SMU）。数字源表作为独立的恒压源或恒流源，输出恒压或恒流、还可以当作表，进行电压或者电流测量；支持Trig触发，可实现与光谱仪，探针台，分选机等第三方设备联动工作。
2022-11-17 16:30:15
489
原创 多通道源表测试气体传感器方案
气体传感器 I-V 特性测试需要几台仪器完成，如数字表、电压源、电流源等。然而，由数台仪器组成的系统需要分别进行编程、同步、连接、测量和分析，过程既复杂又耗时，还占用过多测试台的空间；实施I-V特性分析的Z佳工具之一是数字源表（SMU）。数字源表作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载
2022-11-01 14:55:03
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原创 数字源表之半导体霍尔效应测试
霍尔效应是一种电磁感应现象，当电流垂直于外磁场通过半导体时，载流子发生偏转，垂直于电流和磁场的方向会产生一附加电场，如图7所示。霍尔效应测试中我们一般测试霍尔电压VH、电阻率ρ、霍尔系数RH、载流子浓度n、霍尔迁移率μH等参数。
2022-10-24 14:58:53
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