缺陷密度: 基本的缺陷测量是以每千行代码的缺陷数(Defects/KLOC)来测量的。称为缺陷密度(Dd)，其测量单位是defects／KLOC。缺陷密度=缺陷数量/代码行或功能点的数量。
转载于:https://my.oschina.net/tadcat/blog/147812
缺陷密度
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