本发明涉及Soc芯片设计及制造领域,特别涉及一种Soc芯片验证方法。
背景技术:
随着设计与工艺技术的不断发展,集成电路设计的规模越来越大,复杂度越来越高,为了缩短芯片的上市时间,节约开发成本,多家IP的集成也渐渐成为主流,即SoC(System-on-Chip)技术发展越来越成熟,但也带来SoC的验证复杂度呈现指数级的增长。因此,一个高效的验证平台使得验证迅速收敛显得尤为重要。验证的收敛与激励产生的有效性以及调试的便利性息息相关,而SoC芯片中通常会嵌入CPU,CPU程序激励的随机性也变得很重要。传统的验证平台主要有两种:如图1是程序生成随机数Soc验证平台示意图,该方法通过在CPU程序中直接进行随机数生成,如C调用rand函数生成随机数,此方法缺点是无法做到真正的随机,每次运行得到的随机数都是一样的,无法满足激励随机的要求;图2是脚本生成随机数Soc验证平台示意图,如通过脚本语言perl产生随机数,然后使用如C语言include语句加载这部分随机数据后用来产生随机激励,此方法缺点是每次运行SoC仿真前,都必须先运行产生随机数的程序,使用不方便且影响验证效率。或增加多个用例修改种子,这又带来重复性的劳动,降低验证的效率。C语言实现的CPU程序为例,如果在C程序中直接调用rand函数随机,由于rand函数取决于种子的随机性,而嵌入式CPU并没有提供有效的种