51单片机dds信号发生器扫频 c语言,基于AT89C51单片机和DDS器件实现频率特征测试仪的设计...

最新推荐文章于 2025-09-27 13:27:57 发布

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#51单片机dds信号发生器扫频 c语言

本文介绍了基于51单片机和DDS技术设计的频率特性测试仪，用于测试电子系统频率特性，包括幅频和相频特性。采用DDS核心，利用相位累加器和正弦ROM表产生高质量的正弦信号，并通过峰值检波和鉴相器检测幅频和相频特性。系统可实现实时显示和打印输出，适用于电子领域频率特性的测量。

1、引言

频率特性是一个系统(或元件)对不同频率正弦输入信号的响应特性。如图1所示，被测系统输入幅值为Ar、角频率为ω的正弦信号，如果该系统是线性的，则其稳态输出也是正弦信号，频率ω不变，幅值为Ac，相角差为φ。改变ω可以得到一系列输入和输出数据。输出对输入的幅值比A(ω)=Ac／Ar与ω的关系曲线称为该系统的幅频特性，通常取20 lg A(ω)称为对数幅频特性。输出对输入的相角差φ(ω)与ω的关系曲线称为该系统的相频特性。幅频特性和相频特性综合称为频率特性，常用的是系统的开环频率特性即波特图。

一个系统的频率特征可通过频率特征测试仪来测定。频率特性测试仪也称扫频仪，用于测试被测网络的幅频特性。他可以测量被测网络的谐振频率、带宽、带外衰减、增益等，是电子领域的常用设备之一。模拟式扫频仪价格较贵，且不能直接得到相频特性，更不能保存频率特性图和打印频率特性图，给使用者带来了诸多不便，为此没计了此数字式频率特性测试仪。

2、总体设计

单片机控制信号源产生标准正弦波，输入到被测网络；被测网络的输出分别输入幅度检测电路和相位检测电路，得到峰值和相位差值送入单片机进行处理；单片机处理后的结果一方面提供给LED实时显示，另一方面存人存储器，供示波器显示幅频、相频曲线。总框斟如图2所示。