大学计算机课实验4,计算机组成原理实验

计算机组成原理实验(四)

第七章 PLD部件实验

7.1 总线传输实验

7.2 运算器部件实验

7.3 存储部件实验

7.1 总线传输实验

1,实验器材

FD-CES实验仪一台,PLD实验板一块。

2,实验要求

把两个数据分别写入 74373和 74374中,

再使用 RAM作中间单元来交换这两个数据。

3,实验框图

见图 1。

图 1 总线传输实验框图

4,实验原理

本实验中,M,BUF位于实验仪内,M为

6116RAM,IAB10~IAB0为它的地址线 (IAB10

应等于 0),RC为有效“读信”号,WC为有效“写入”

信号,BUF为 74245,在按下实验仪的控制台的

STEP键后,LED数码管的小数点亮,这时 RF=0,

允许 74245,DIR控制 74245导通方向,0为 A->B

(读出 RAM),1为 B->A(写入 RAM)。 IDB7~IDB0

为实验仪的内部总线,可接 Ll5~L8来显示 IDB的数

据。

74244为 8位三态门,OE=0时,把 K7~K0的数

据输入到 IDB上。

74377为 8位 D触发器,CK为上跳有效时钟,EN

为允许输入 (恒接为 0),它的输出接 L8~Ll5。

74373为 8位带三态透明锁存器,GT为接数门控

端,OE为输出控制,OE=0时锁存器输出至 IDB。

74374为 8位 D触发器,CK为电平上跳有效接数

时钟,OE为输出控制,OE=0时 74374输出至 IDB。

5.实验设计

在使用 PLD实验板完成本实验时,需注意以下几

个问题,

(1),读入 ispLSI2096部件实验引脚定义表。

(2),需定义 U244A0~A7,U374Q0~Q7,

U377Q0~Q7,U373Q0~Q7和它们的控制信号

U244OE,U374CK,U374OE,U373OE,

U377CK,U377EN为内部 NODE。

(3),74377,74374等 D触发器,需定义它

们的 NODE为 REG类型 (ISTYPE‘REG')。

(4),对 D触发器,需定义 D端输人和时钟输

入的表达式,例对 74374可如下定义,

[U374Q0...U374Q7]=[IDB0...IDB7];

[U374Q0...U374Q7].CLK=U374CK;

(5),对于透明锁存器,需定义它为组合

电路,例对一位锁存器,设输入为 D,输出

为 Q,门控端为 G,可如下定义,

Q = G & D # ! G & Q ;

即 G=1时,Q=D; G=0时,Q保持不变。

(6),对于 PLD芯片 (例 ispLSI2096),它仅允许在

引脚 PIN上有三态门,而内部 NODE不能有三态门。

为此,对本实验的 74244,74373,74374的三组

8位三态门可连成一组,接于 PIN,IDB0~IDB7上,

它们的三态门的允许端由 U244OE,U373OE,

U374OE控制,其中有一个为 0即允许 IDB的三态门,

使用一个多路开关来选择 7424,74373,74374之

一,具体由 U244OE,U373OE,U374OE决定哪一

个可输出至 IDB。可如下定义,

[IDB0...IDB7]=(U244OE==0)&[U244A0...U244A7]

#(U373OE==0)&[U373Q0...U373Q7]

#(U374OE==0)&[U374Q0...U374Q7]

[IDB0...IDB7].OE=!(U244OE&U373OE&U374OE);

(7),由于本实验开关有限,可把 M(6116)

的地址线 (IDB10~IDB0)全部接 "0"。

(8),应将副板上的,SW/USER”开关置于

,USER, 端,以使显示灯 L0~L23显示本实

验的信息。

练习,

1、三 -八译码实验

2、四位加法器实验

3、四位比较器实验

4,四 -十六译码实验

6,实验步骤

(1).把 PLD实验板接至 FD-CES实验仪上。

注意 "上右 "插座不要连。

(2).使用 Synario输入逻辑设计,编译生成

熔丝图文件,下载到 ispLSI2096。

(3).按下 FD-CES实验仪控制台的 STEP键,

使数码管的小数点全亮。

(4).实验操作,

a.使 K8~K16处于非有效状态。

b.置 K0~K7为 10010110,使 74244导通

至 IDB,并使 74373接数。

c.置 KO~K7为 11110000,使 74244导通,

并使 74374接数。

d.关闭 74244。

e.使 74373输出至 IDB,并写入 M(6116)中。

f.使 74374输出至 IDB,并使 74373接数。

g.读出 M至 IDB,并使 74374接数 。

h.使 74373输出至 IDB,并使 74377接数,

L0~L7为 11110000使 74374输出至 IDB,并使

74377接数,L0~L7为 10010110。

7.2 运算器部件实验

1.实验器材

FD-CES实验仪一台,PLD实验板一块。

2.实验要求

设计一个简单的运算器模块,它包括寄

存器、运算器 ALU、数据输入 (开关 )和数据

输出 (LED)通道。

3.实验框图 见图 2所示。

图 2 运算器部件实验框图

4,实验原理

本实验中,IDB为数据总线,IDB7~IDB0接至

L7~L0显示总线信息。

74244为 8位三态门,OE=0时,把 K0~K7的数

据输入到 IDB上。

BUF为 74244,它接通至 ALU的输出 F端。

74377为 8位 D触发器,CK为上跳有效时钟,EN

为允许输入 (恒接为 0)。 74377的输出至 ALU的 A端。

74373为 8位透明锁存器,GT为接数门控端,OE

为输出允许端 (恒接为 0),74373的输出至 ALU的 B端。

ALU为 8位逻辑运算部件,它的输出为 F0~F8,

(其中 F8为进位输出 )。它可有如下 8种功能,具体

由开关 K13,K14,K16选择,

F=A+B 允许有进位输入 (K9)和进位输出 (L9)。

F=A+l 允许有进位输入 (K9)和进位输出 (L9)。

F=A∧ B,

F=A∨ B,

F=B,

F=A,

F=全 1,

F=全零。

5,实验设计

在使用 PLD实验板完成本实验时,需注意以下几

个问题,

(1).读入记 ispLSI2096部件实验引脚定义表。

(2).需定义 U244AO~A7,F0~F8, U377Q0~Q7、

U373Q0~Q7和它们的控制信号 U244OE,FOE,

U373CK,U373OE,U377CK,U377EN为内部

NODE,U377为 REG类型,U373为透明锁存器 (同总

线部件实验 )。

(3).IDB0~IDB7为双向引脚,它有两个三态输入,

U244和 ALU输出 F,可同总线部件实验方法加以定

义。

(4).ALU设计时,可使用 ABEL-HDL的加法 (+),但要

注意,如直接把两个 8位数相加,例 F=A+B(A,B均

为 8位集合 ),它采用全并行加法,可能会使逻辑表达

式过于复杂,无法适配至 2096中,可分成两个四位

并行加法,其间为串行进位,可大大简化逻辑表达式。

下面以 4位加法和逻辑与功能为例,说明设计方法。

A0~A3,B0~B3为两个 4位输入,CN为进位输入,

X为功能选择,X=0,加法 ;X=1,逻辑与,F0~F3为

输出,F4为进位输出,可如下设计 ABEL-HDL表达

式,

[F4..F0]=(X==0)&([0,A3..A0]+[0,B3..B0]+[0,0,0,0,CN])

#(X==1)&([CN,A3..A0]+[CN,B3..B0]);

6,实验步骤

(1).使用 Synario输入逻辑设计,编译生成

熔丝图文件。

(2).把 PLD实验板右下方 50芯插座与实验仪

相连。

(3).按下实验仪控制台的 STEP键,使数码

管的小数点全亮。

(4).实验操作,

a.置 K0~K7为 10010110,使 74244导通,并使

74377接数。

b.置 K0~K7为 11111001,使 74244导通至 IDB,

并使 74373接数。

c.分别置 ALU为 8种功能,并使 ALU输出至 IDB,

检查结果是否正确 (包括加法时的进位输人和输出 )。

7.3 存储部件实验

FD-CES实验台寄存器堆功能模块 见 6.3。

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目录 第一章 设计总要求••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••v••••1 一.设计总要求概述••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••1 第二章 整机框图••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••1 一.整机模块简述•••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••1 二.整体逻辑框图•••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••2 第三章 指令系统••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••2 一.指令概述•••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••2 二.指令编码•••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••2 第四章 指令流程表••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••3 第五章 微程序表•••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••6 一.设计微操作控制信号及其实现方法••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••6 二.确定微程序控制方式••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••6 三.编写各执令的微程序表••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••6 第六章 按模块接线••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••8 一.设计时应遵循以下规则••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••8 二.分模块依次设计所有控制信号••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••8 三.实验模块接线表••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••8 第七章 总体接线图•••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••10 一.实验组装的准备和注意事项••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••10 二.总管脚接线连接••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••10 三.芯片连接图••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••11 第八章 调试程序•••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••12 一.调试准备•••••••••••••••••••••••••••••••••12 二.程序调试•••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••12 三.存,取及停机指令••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••12四.算逻辑类指令•••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••13五.跳转类指令••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••14六.输入类指令••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••15七.输出类指令•••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••15 第九章 应用程序•••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••16 第十章 试验遇到问题及解决方法•••••••••••••••••••••••••••••••••••••16 第十一章 心得•••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••17

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