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对计量型的过程数据而言,如果数据服从正态分布,我们可以很方便地计算出相应的过程能力指数Cp,Cpk等。
计算方法参考如下文章
过程能力分析--Cpk和Ppk的简单解说mp.weixin.qq.com![1791673825a456def63f844bed90a501.png](https://i-blog.csdnimg.cn/blog_migrate/a512b54981158903627255e572a2b11b.png)
但当数据呈现非正态分布状态时,如果直接按普通的计算过程能力的方法处理就会存在较大的风险。
一般来说,如果正态性检验的P值小于0.05,常见的有以下三种情况。
情况一
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直方图正常,无明显偏态多峰情况,这种情形通常是由于测量系统的分辨力不足造成的。
这种情况下,我们可以采用正态的方法计算Cpk和Ppk,但是应该以Ppk为主,Cpk作为参考。