一、实验目的
1、熟悉系统频率特性测试方法。
2、用频率特性测试系统测得系统开环对数幅频曲线和相频曲线,从而确定系统参数。
二、实验仪器设备
1.自动控制原理实验箱
2.ATC2007软件
3.频率特性分析仪
一、实验内容
1. 被测系统的方块图及原理
系统(或环节)的频率特性G(jω)是一个复变量,可以表示成以角频率ω为参数的幅值和相角:
本实验应用频率特性测试仪测量系统或环节的频率特性。
图4-1所示系统的开环频率特性为:
采用对数幅频特性和相频特性表示,则(4-2)表示为:
将频率特性测试仪内信号发生器产生的超低频正弦信号的频率从低到高变化,并施加于被测系统的输入端[r(t)],然后分别测量相应的反馈信号[b(t)]和误差信号[e(t)]的对数幅值和相位。
根据式(4-3)和式(4-4)分别计算出各个频率下的开环对数幅值和相位,在半对数座表纸上作出实验曲线:开环对数幅频曲线和相频曲线。
2. 被测系统的模拟电路图
二、实验内容及步骤
在此实验中,我们利用ATC2007系统中的U21 DAC单元将提供频率和幅值均可调的基准正弦信号源,作为被测对象的输入信号,而ATC2007系统中测量单元的CH1通道用来观测被测环节的输出,选择不同角频率及幅值的正弦信号源作为对象的输入,可以测得相应的环节的输出,并在PC机屏幕上显示,我们可以根据所测得的数据正确描述对象的幅频和相频特性图。
具体实验步骤如下:
(1)将U21 DAC单元的OUT端接到对象的输入端。
(2)将测量单元的CH1(必须拨为乘1档)接至对象的输出端。CH2不需要外接,已经内部连接至基准正弦信号源。
(3)将U1 SG单元的ST和S端断开,用排线将ST端接至U26控制信号单元中的PB0.(由于在每次测量前,应对对象进行一次回零操作,ST即为对象锁零控制端,在这里,我们用8255的PB0口对ST进行程序控制)
(4)在PC机上输入相应的角频率,并使用“+”、“-”键选择合适的幅值,按ENTER键后,输入的角频率开始闪烁,直至测量完毕时停止,屏幕即显示所测对象的输出及信号源(CH2通道,内部已连接,无需外接CH2),移动游标,可得到相应的幅值和相位。
(5)如需要重新测试,则按“N”键,系统会清除当前的测试结果,并等待输入新的角频率,准备开始进行下次测试。
(6)更加测得在不同频率和幅值的信号源作用下系统误差e(t)及反馈c(t)的幅值、相对于信号源的相角差,自行计算并画出闭环系统的开环幅频和相频曲线(Bode图)。
三、实验要求
实验数据处理及被测系统的开环对数幅频和相频曲线(Bode图)。
输入Ui(t)的角频率ω(rad/s) | e(t)误差信号 | C(t)反馈信号 | 开环特性 | |||||
幅值(V) | 对数幅值20lg | 相位(°) | 幅值(V) | 对数幅值20lg | 相位(°) | 对数幅值L | 相位ψ(°) | |
0.1 | ||||||||
1 | ||||||||
10 | ||||||||
100 | ||||||||
300 |
根据实验测得的数据,画出开环对数对数幅频和相频曲线(Bode图)。