液晶 mura 机器视觉 matlab,基于Gabor滤波与C-V模型分割的LCDMura缺陷机器视觉检测方法...

基于Gabor滤波与C-V模型分割的LCD Mura缺陷机器视觉检测方法

【专利摘要】本发明属于LCD?Mura缺陷机器视觉检测【技术领域】，其公开了一种基于Gabor滤波与C-V模型分割的LCD?Mura缺陷机器视觉检测方法，包括如下步骤：在暗室中，用CCD相机对点亮的LCD屏幕在垂直方向拍照，把采集到图像输入计算机进行图像处理，图像处理步骤为几何校正、Gabor滤波、改进的C-V模型分割和缺陷量化。本发明的有益效果是：有效地平衡了图像整体的亮度不均匀性，提高了分割的准确度；实现了对LCD?Mura缺陷准确快速的检测和量化。

【专利说明】基于Gabor滤波与C-V模型分割的LCD Mura缺陷机器视觉检测方法

【技术领域】

[0001]本发明属于LCD Mura缺陷机器视觉检测【技术领域】，具体涉及基于Gabor滤波与C-V模型分割的IXD Mura缺陷机器视觉检测方法。

【背景技术】

[0002]目前LCD Mura缺陷检测主要依靠人眼检测，人眼检测方法存在很多不足:检测结果容易受人的主观因素以及外界环境的影响，对缺陷等级判定没有统一的标准，检测效率低，代价高，并且对工人的眼睛存在伤害。随着LCD向大尺寸、轻薄化、低功耗、高分辨率的方向发展，LCD Mura缺陷产生的几率大大增加，人眼检测方法无法满足产品质量和生产效率方面的要求，IXD Mura缺陷检测成为制约IXD产业发展的重要因素。

[0003]IXD Mura缺陷机器视觉检测是一种利用图像处理的方法，对缺陷进行检测并对缺陷做出客观地量化，以此代替人眼的检测和判断。IXD Mura缺陷种类繁多，而且最难检测。尽管国内外众多学者对LCD Mura缺陷检测进行了长期的深入研究，并发表了大量的研究论文，试