Halcon 中mura缺陷检测

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前言

       最近一直在研究高纹理图像中Mura类型缺陷的检测，此类缺陷检测属于表面检测的范畴，以下是对Halcon官方例子中一个相似案例的分享学习。

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一、Mura是什么？

1. Mura概述

         Mura类型的缺陷，一般用于在屏幕显示行业中，描述在屏幕显示的测试过程中，形成的团块状坏点区域，在表面检测领域常常用来表述皮革，布料，半导体磨砂面等表面团块且与纹理背景有差异的团块缺陷类型。

   2. 检测难点

       Mura类型缺陷，最大的难点在于所处的背景过于复杂，使采用普通的阈值+形态学方法在此处常常失灵，还有就是Mura缺陷的灰度范围和背景中复杂纹理处于同一灰阶范围，难以通过常规手段分割提取。但是对应一些背景较浅的情况 mean_image + 动态阈值的方法也可以起到意料之外的效果。

二、Halcon官方detect_mura_defects_texture.hdev例子 

1.例子描述

* This example shows how to detect mura defects
* in highly textured images

这个例子展示了如果在高纹理的图像中检测mura类型缺陷

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2.读入第一张图像展示