只是简单按照过往的经历,做一下小结,如有错误,请帮忙指出。
最近好奇,为啥按照以前TP客观测试,往往需要先跑一下屏的机台客观测试,然后再跑一下屏的主观测试。一般先跑客观,然后再跑主观。其实就如果修改涉及到固件的报点准确性和线性度,修改后固件,主客观都需要跑一下。
但是当碰到TP/LCD 2颗芯片相互独立的情况下,往往跑机台测试就没有那么重要。经过简单了解,有以下信息:
就TP/LCD来说,目前市场上有tddi 和oled两大主流,其中tddi 芯片是tp和Lcd一颗芯片的,oled则是tp/lcd相互独立状态。对于tp/lcd 独立2颗芯片配置,tp面板容值基本是平均的,坐标基本上是贴合容值浮起位置,相关参数在相似款芯片中可以通用。而且模组厂出场基本上做过了机台校验,后续偏差也不会很大。
对于tddi 芯片来说,因为是一颗芯片,最小单元是tp/lcd 相互整合电路,最小单元连接处容值信号相对比较差,存在一定偏差。这样坐标和容值浮起位置就需要在修改后进行机台的校准。