环回测试能够提供什么信息_干货演讲视频分享|怎样解决下一代内存面临的五大DDR5测试挑战？...

上一期“测试新体验”专辑中，我们为大家带来了DDR3一致性测试系统的介绍，

本期泰克专家将继续为小伙伴们讲解新一代DDR5内存技术

DDR5测试挑战

随着云计算、物联网和实时数据分析产生的数据呈指数增长，DDR5 SDRAM应运而生，致力解决这些数据增长导致的内存带宽挑战，并满足数据中心持续存储、传送及更快地处理这些数据的需求，它不仅提高了高速信令的极限，还提供了一系列强大的新功能。

因此，DDR5也给内存领域带来了前所未见的独特的测试挑战。

“怎样解决下一代内存面临的五大DDR5测试挑战？”

本期演讲视频，泰克DDR5专家Saifee Jasdanwala和Tom Waschura将为您讲解怎样解决与最新DDR5标准有关的最棘手的测量挑战

知乎视频​www.zhihu.com

友情提醒：视频时间较长，建议在wifi模式下耐心观看

视频将介绍DDR5 Rx/Tx一致性测试的最新动态，阐述最新表征和调试技术，用以分析最高的DDR5速度等级。

要点概述：

DDR5最新动态

DDR5测试解决方案的主要要素

DDR5测试挑战和解决方案，包括：

• 信号访问
• 读/写突发检测
• 接收机均衡(4阶DFE)
• 环回接收机BER测试
• 嵌入/反嵌要求

讲师介绍

Saifee Jasdanwala

Saifee Jasdanwala现任泰克科技公司宽带产品事业部内存解决方案市场工程师。Saifee在验证和表征手机、汽车和服务器应用中的高速DDR接口方面拥有愈8年的专业经验。他代表泰克科技参加JEDEC协会，目前负责面向内存市场开发泰克解决方案。

Tom Waschura

Tom Waschura与孪生兄弟Jim共同组建了BitWise实验室有限公司。Tom在误码率测试领域拥有愈35年的专业经验。自1989年以来，Tom和Jim共同开发出大量的推动BERT市场发展的创新技术，包括研究误位置信息，给BERT增加压力，给BERT增加眼图，开发实验室级时钟恢复仪器，使用BERT进行抖动分解，BERT前向纠错等。两兄弟为许多功能确立了标准，而这些功能现在已经成为许多厂商开发的BERT的标配。

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