本发明属于光谱测量分析技术领域,具体涉及一种利用分段多项式拟合的基线校正方法。
背景技术:
随着科技技术的进步,光电检测技术被广泛应用于石油、化工、环境、空间技术、资源勘探等领域进行定性或定量的分析。然而光学仪器中设计的部件较多,且易受诸如温度、湿度、振荡等环境因素的影响,这些因素的微小变化都会使采集到的光谱图产生波动或者漂移,另外,光学仪器的基线经过长时间的使用往往会出现基线漂移,甚至非线性畸变等的现象,从而导致结果产生较大的偏差,严重影响其在工业中的使用和推广。因此,在工业检测过程中,迫切需要一种能处理特殊波形的基线校正方法。
目前,这类仪器有多种光谱基线校正的方法,如使用快速傅里叶变换、简单多项式拟合法等。但是,快速傅里叶变换法需要人为确定上下限,并且花费大量的时间进行计算。在诸多实时应用场合下,面对大量的数据很难对原始光谱进行一一处理。此外,在很多应用过程中,光谱的谱线呈现为多种形状。简单多项式拟合的方法不能满足特定光谱的基线拟合要求。基于这些原因,本发明提出一种基于分段多项式拟合的基线校正方法。
技术实现要素:
为克服现有技术中存在的缺陷,本发明提出一种基于分段多项式拟合的基线校正技术,无需额外设备和试剂、误差小、适应性强。其技术方案如下。
一种基于分段多项式拟合的基线校正方法,包括以下步骤:
(1)采集数据:通过光电传感器采集样本的光谱数据,所述光谱数据包括依次增加的波长值和对应的光强响应值。
(2)编号处理:将波长值从0开始依次进行顺序编号,待所有步骤完成后再重新与原始波长对应。将光谱响应值组成一个光谱矩阵。
(3)降噪处理&