Altair/FEKO
FEKO助力大量工业领域的OEM厂商及其供应商解决其在产品设计、分析和测试验证过程中遇到的EMC问题。通过使用FEKO等仿真工具,减少了试制样品的数量和测试的次数,将传统的以测试驱动的开发流程转变为以仿真驱动设计。FEKO在EMC/EMI领域的重要应用包括了电磁辐射、电磁抗干扰、雷电效应、高强度辐射场(HIRF)、电磁脉冲(EMP)、电磁屏蔽、电磁辐射危害以及天线耦合等。
天线布局
在自由空间中进行天线仿真时,有多种技术可选。在实际应用中,这样的天线被安装在实体结构上,严重影响天线的自由空间辐射特性。对于安装在大型平台上的天线,测量其辐射特性非常困难,有时甚至无法测量。因此,进行精确仿真的挑战是,天线与大型电子环境的交互。多年来,FEKO 在天线布局方面已经赢得良好声誉,成为车辆、飞机、卫星、轮船、蜂窝基站、塔、建筑及其他地点的天线布局的标准 EM 仿真工具。MLFMM 和 FEKO 中的渐进求解器(PO、RL-GO 和 UTD)以及模型分解共同作用,使 FEKO 成为解决大型或超大型电子平台上天线布局和共址干扰问题的理想工具。

战斗机和轮船上的天线布局(表面电流如图显示)
FEKO仿真
基于平台上多天线间的隔离度问题(图1)是FEKO最擅长处理的问题之一。该飞机模型是EMC计算电磁学(CEMEMC)专题研讨会上展示的一个测试模型,属于EV55(属于HIRF-SE FP7 EU项目,EVEKTOR,spol.s r.o.和HIRF SE联盟拥有其版权)的变形版本。用户只需要根据求解问题的类型、电尺寸大小和复杂度等来选择FEKO中的一种求解器进行计算。FEKO中快速计算天线间互耦的一种方法是通过S参数,用户可以在不重复启动求解器的情况下通过一次计算可视化显示天线负载的变化对天线间耦合的影响,直观显示大量天线端口的耦合并绘制共址干扰矩阵来识别和分析耦合强度的等级。此外,FEKO的模型分解技术结合天线等效、EMC等