SPC控制图可以分为计量型和计数型。计量型控制图的选择已经在另一篇文章中解释。这里来讨论一下计数型控制图的选择。
AIAG的SPC手册中介绍了4种计量型控制图:p控制图,np控制图,u控制图,c控制图。而用到计数型控制图的情况可以归类为两种:
1) 一种是需要把被测量对象归类,例如合格/不合格,一等品/二等品/次品,bin 1/bin 2/bin 3...等等,
2) 另一种是需要对被测量对象计数,例如产品上存在多少个缺陷,一年发生多少次火灾...等等
下面分别来讨论下这两种情况应如何选择控制图。
需要把测量对象归类的情况
这一类控制图常见的情况有两种
1)需要监控子组样本中不合格品产品的数量,例如每次抽检100个产品,统计该子组中有多少个不合格品,将不合格品的数量绘制在控制图中。这个时候应该选择np控制图
2)需要监控子组样本中产品的不合格率,例如每次抽检100个产品,统计该子组中有多少个不合格品,将不合格品的比例绘制在控制图中。这个时候应该选择p控制图。
在SPC手册中有提到使用以上两种控制图时,都要求子组中不合格品的数量
比较小,因为只有在这个条件下,样本中的不合格率或不合格品数量才可以用正态分布来近似,本文最下面公式1和2中的控制限才成立。所以当不合格率比较低时,使用p图或np图时样本容量需要足够大,如果无法得到足够大的样本,则不应该使用这两类控制图。
注:以上的讨论是基于产品分为合格/不合格两类的情况。而当需要把产品分成n(
)个类别时,应按照上面的要求对其中的n-1个类别都分别建立控制限,任何一个类别的控制图出现异常的时候,都应该采取措施以消除特殊原因。
需要对测量对象计数的情况
这一类控制图常见的情况有两种
1) 需要监控子组样本中缺陷的数量,例如每次抽检一个产品,统计该产品上的缺陷总数,将每次抽样的样品的缺陷总数绘制在控制图中。这个时候应该选择c控制图。
2)需要监控子组样本中缺陷的密度,例如每次抽检一个产品,统计单位面积上的缺陷数量,将每次抽样的样品的缺陷密度绘制在控制图中。这个时候应该选择u控制图。
在SPC手册中有提到使用以上两种控制图时,都要求缺陷数为0的样本数量比较小,因为只有在这个条件下,样本的缺陷总数或缺陷密度才可以用正态分布近似,下面公式3和4中的控制限才成立。所以当多数产品的缺陷数为0的时候,不应该选用这两类控制图。
额外说明
如果不合格率
很低的话,u图和p图是一样的,而c图和np图是一样的。因为根据下面的控制限的计算公式,当
很小的时候,p图的控制限为
,np图的控制限为
,令u=p,c=np,就得到了以上结论。p控制图:
(公式1)
np控制图:
(公式2)
u控制图:
(公式3)
c控制图:
(公式4)