首先让我们来了解RA参数的定义
Ra 的定义是在一个取样长度中,相对于平均线的Z向偏差量的绝对值的算术平均值。
为了便于理解,Ra的算法可以用以下的图示来表达:
- 图 A: 根据原始数据建立一最小二乘中线 X-X。
- 图 B: 将取样长度“l”中中线以下的轮廓部分翻转到中线以上。
- 图 C: Ra 是高于原始基线的轮廓的平均高度。
Ra在以前也被叫做中线平均值 (CLA),在美国也叫算术平均值 (AA)。
Ra – 应 用
Ra是一种制造业的控制参数。如果Ra值有变化,就反映了其控制过程发生了变化,如切削头、速度、进给量和切削液 (润滑液) 的变化。
Ra是工业上最常用的参数,它可以用在任何制造商使用的简单的和低价的仪器上。
Ra的平均性质可以保证参数的稳定,不受偶然的杂散尖峰或划痕的影响。
Ra对于非常精细的表面不够敏感,不能够挑出稀少的表面缺陷 – 参见 Rq。
在原始滤波 (Primary) 中的Pa通常用于非常短的表面上,如“O”形环槽等,使用滤波器会消除有关密封性能的相关细节。
波纹度中的Wa可以预测大型密封面例如缸盖垫片等的密封性能。假如组件表面结构不够平整 (波纹度参数偏大) 的话,会造成密封失效。
Ra – 局 限 性
由于Ra参数是一个平均值参数,所以是一个稳定的参数。但是由于缺乏对其局限性的理解,Ra也会被误用。
Ra本身并没有告诉我们任何关于被测零件的表面特征,以不同的方式加工方式得到的表面可以有完全相同的Ra值。
由于加工方式的改变,当Ra值发生变化时,我们需要其它参数来评估其变化的原因。
Ra – 历 史
从历史发展上看由英国、美国以及其他欧洲国家开发和推广了平均值参数 (诸如Ra、Rq之类的平均值参数),用于表面粗糙度的测量和分析。
这是由于触针式粗糙度仪器的出现和发展带来的参数。
峰值参数是由前苏联的一些厂家提出和推广的, 因为当时他们在光学的研发中需要这类参数, 他们认为相对于Ra来说, 峰值参数更适合于评价光学产品的表面特性。
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