设备能力指数cmk计算公式_跟随ECMC共成长之 Q&A（三）如何区分Cpk/Ppk/Cp/Cmk

叮叮叮叮叮~~~ECMC社团小课堂时间到！！！针对本期的ECMC会员提问，Megi老师解答得很耐心很详细哟，咱赶紧看看到底怎么区分Cpk/Ppk/Cp/Cmk吧。  

本期ECMC会员问题：          

1. 数据非正态能用Johnson转换成正态吗？                                   

2. SPC数据如何分组？

3. Cmk与Cpk/Ppk的区别？

4. Cp如何应用

(一)先将Cp/Cpk/Ppk/Cmk的定义讲一下吧：

Cp=T/6s ( T:tolerance, s:standard deviation)：潜在能力指数potential capability, 一般用于评估设计能力，当

Cp<2时，说明目前制造能力不足，需要提升制造能力，或则需要用全检来确保合格产品出货；

Cp>=2说明目前制造能力可以满足客户Spec要求；

Cp>2，可能过质量，会有加工制造成本过高的风险。

Cpk=Min[(USL-Xbar)/3/s，(Xbar-LSL)/3/s]:过程能力指数 capability of process index,一般用于PPAP之后产品的过程能力评估，AIAG/VDA手册要求Cpk>=1.33

Ppk=Min[(USL-Xbar)/3/s，(Xbar-LSL)/3/s]:过程绩效指数 performance of process index,一般用于PPAP之前产品或试制过程能力评估，AIAG/VDA手册要求Ppk>=1.67 

Cmk=Min[(USL-Xbar)/3/s，(Xbar-LSL)/3/s]:设备能力指数 capability of Machine index,一般用于PPAP之前产品或试制过程设备能力评估，AIAG/VDA手册要求Cmk>=1.67

(二)Cpk/Ppk/Cmk如何取样分组呢？

Cmk一般连续生产100件，10个一组，分10组，评估设备能力是否满足5sigma的要求；

Ppk一般连续生产两天or依照客户的试制订单，取样125件，分组或不分组，分组按照5个一组，分成25组；评估Run&rate 试样能力是否满足5sigma的要求；

Cpk一般连续生产两周至一个月，取样依据控制计划定义的首检/巡检/末检(一般每次取5件)，均等过程时间取25组数据，评估量产过程能力是否满足4sigma的能力。

(三)非正态怎么办呢？

在做Cpk分析的时候，需要先检查数据是否正态，如果非正态，原因有以下几个方面：

1. 取样数据未区分过程，如不同模腔号的产品未区分开；几条产品线的产品未区分开；

2. 过程发生了变异，取样过程中人机料法环发生了变化；

3. 测量系统MSA不满足要求，量具识别度不够。

针对以上可能发生的原因进行分析，将非正态原因找到，正常的过程，收集到的数据都是正态，不建议没有找到原因就直接用Johnson or weibull 分布去转换。

本期ECMC社团会员提问就是这样啦~

感谢Megi老师的专业答疑

 如果您有所收获，记得随手分享给伙伴们~~~

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