hyperion高光谱参数_科学研究 || X 荧光光谱分析仪的原理及分析方法

X射线荧光光谱分析技术目前已在地质、冶金、材料、环境等无机分析领域得到了广泛的应用，是各种无机材料中主组分分析最重要的技术手段之一，各种与X射线荧光光谱相关的分析技术，如同步辐射XRF、全反射XRF光谱技术等，在痕量和超痕量分析中发挥着重要的作用。

X射线荧光光谱仪基本原理

1948年美国海军实验室首次研制出波长色散X射线荧光光谱仪，直至今天，X射线荧光光谱法已经成为一门成熟的成分分析技术。自20世纪80年代起, 能量色散X荧光能谱技术逐渐被应用于宝石鉴定方面。相对于其它有损的仲裁检测方法，快速、无损的特点使其能在日常的委托检测中得到广泛应用。

△ X射线的波长和能量区域

 X射线荧光光谱仪的定量与无标样分析方法

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X射线荧光光谱仪定量分析方法

X射线荧光光谱法是一种相对分析方法，光谱仪只提供X射线荧光的强度，要找到荧光强度与样品浓度的关系，需要一套高质量的标准样品，根据元素的浓度和已测的该元素的特征谱线的强度按一定关系进行拟合绘制工作曲线，以该工作曲线为基础测试同类型样品元素的组成和含量。

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X射线荧光光谱仪无标样分析方法

X射线荧光光谱无标样分析技术是20世纪90年代推出的新技术，其目的是不用标准样品也可以分析各种样品。

它的基本思路是：由仪器制造商测量标准样品，储存强度和工作曲线，然后将这些数据转到用户的X射线荧光分析系统中，并用随软件提供的参考样品校正仪器漂移。其优点是采用了制造商的标样、经验与知识，包括测量条件，自动谱线识辨，背景扣除，谱线重叠校正，基体校正等。无标样分析技术可以在没有标准样品的情况下分析各种样品中的七十几个元素，应用范围较广，但其适用性也带来了分析准确度的局限性。

商检系统已经将X射线荧光光谱无标样分析技术应用到了进出口的金属材料和矿产品的检验中。尤其在进口铁矿中涉及安全卫生环保要求的有害元素监控，进口铜矿、铜精矿中有害元素限量判定等方面，获得了很好的应用。

 XRF分析技术的特点

XRF具有分析速度快、干扰少、精密度高、不破坏样品等特点。分析技术的缺点是检出限不够低，不适合分析轻元素，依赖标样。

金属离子浓度快速分析仪

钰芯传感金属离子浓度快速分析仪MEC-10MIT

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产品优势

1. 金属离子成分分析；检测金元素含量范围为 1ppm－99.99%。

2.  样品仓空间大 长*宽*高 310 × 280 × 105mm(W × D × H)；

3. 运行及维护成本低、无易损易耗品，对使用环境相对要求低；

4.  操作简单、精准无损、高品质、高性能、高稳定性，快速检测(10-60 秒)；

5. 顶级配置：SDD 探测器、超长寿命 X 射线管、超稳定性高压电源；

6. 全自动对焦模式，无需手动对焦；

7. 无损检测，一次性购买标样可永久使用。

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产品特征

 元素分析：分析元素范围 Al-U； 分析精度及稳定性：

1) Au,Ag,Cu, Zn, Fe, Ni,Cd,Pd,Pt, Mn, Ti, W, Sn 等重金属含量的检测限达 10～

20ppm，对这些金属测试分析稳定的读取允许差值本仪器已达到下列标准：A. 检测金含量大于 99%的 10 次标准偏差小于 0.01

B. 检测金含量在 95-99%的 10 次标准偏差小于 0.015

C. 检测金含量在 90-95%的 10 次标准偏差小于 0.02

D. 检测金含量在 80-90%的 10 次标准偏差小于 0.025

E. 检测金含量在 70-80%的 10 次标准偏差小于 0.03

F. 检测金含量在 70-80%的 10 次标准偏差小于 0.04

G. 检测金含量在 50-70%的 10 次标准偏差小于 0.05

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光谱仪软件功能

1.软件应用

- 金属离子浓度成分分析

- 基本参数法无标样分析功能目前是黄金领域最佳解决方案。

2.软件标定方法

- 使用一个或多个标准样调试参数

3.软件测量功能：

- 快速开始测量，10-60S

- 快速测量过程

- 自动测量条件设定(光管电流，滤光片，准直器)

4.光谱测量功能

- 定性分析功能 (KLM 标记方法)

- 每个能量/通道元素 ROI 光标

- 光谱文件下载、删除、保存、比较功能

- 光谱比较显示功能：两级显示/叠加显示/减法

- 标度扩充、缩小功能(强度、能量)

5.软件直观显示黄金含量及 K 值

6.数据处理功能

- 监测统计值：平均值、 标准偏差、 最大值

7.其他功能

- 系统自校正取决于仪器条件和操作环境

- 视频参数调整

- 仪器使用单根 USB 数据总线与外设连接

- SmartRayPMA 自动输出检测报告(HTML、Excel、PDF)

- 屏幕捕获显示监视器、样本图片、曲线等.......

- 数据库检查程序

- 镀层厚度测量程序保护。

8.仪器维修和调整功能

- 自动校准功能；

- 优化系统取决仪器条件和操作室环境；

- 自动校准过程中值增加、偏置量、强度、探测器分辨率，迭代法取决于峰位置、CPS、 主 X 射线强度、输入电压、操作环境。

客户服务：020-29886536；

销售总监：李海涛 13926131926；

如需技术服务可联系技术总监：崔博士 18520398886。

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