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双谱对角切片的两种计算方法_吴文兵

本文是在国家自然科学基金项目《： 吹风式概率筛高阶谱特性》的资助下完成的。双谱作为高阶谱的重要组成部分，本文通过改变计算双谱的双重循环为一次循环， 在只需用得出双谱对角切片，并不需要得出双谱本身的情况下，提高了双谱对角切片的计算效率。本文作者创新点： 与传统方法相比，本文提出了一种可以直接求得双谱对角切片的方法，并通过实验证明是可行的。作者对本文版权全权负责，无抄袭。参考文献 ［1］ 杨江天，徐金梧。旋转机械故障的双相干谱特征及其识别［J］。 机械工程学报，2000，36(09)：103-106. ［2］ 李中原。旋转机械矢双谱分析及故障诊断应用研究［D］。郑州： 郑州大学，2006. ［3］ 窦慧晶。二维二次非线性相位耦合的切片谱分析［J］。吉林大学学报，2003，21(03)：231-235. ［4］ 董晶; 韩捷; 段非 双谱分析在旋转机械故障诊断中的应用。 微计算机信息，2010，1-1:95-96 ［5］ 蔡奇志，黄宜坚。自回归三谱切片研究。仪器仪表学报，2009，30 (02)。 ［6］ 张严，王树勋，李生红。二次相位耦合的维谱分析［J］。电子学报， 1996，64(04)：109-112. 作者简介：吴文兵(1968-)，男(汉族)，江西临川人，福州外语外贸学院教师，讲师，厦门大学在读博士，主要从事高阶谱研究。 Biography： WU Wen-bing(1968-)，Male(minority ethnic)，Jiangxi， Fuzhou College of Foreign Studies and Trade， Lecturer， Signal processing， Fault diagnosis.