用keil怎么擦除_分享STM32 FLASH 擦除(以及防止误擦除程序代码)、写入

编译环境:我用的是(Keil)MDK4.7.2

stm32库版本:我用的是3.5.0

一、本文不对FLASH的基础知识做详细的介绍,不懂得地方请查阅有关资料。

对STM32 内部FLASH进行编程操作,需要遵循以下流程:

FLASH解锁

清除相关标志位

擦除FLASH(先擦除后写入的原因是为了工业上制作方便,即物理实现方便)

写入FLASH

锁定FLASH

实例:

#define FLASH_PAGE_SIZE ((uint16_t)0x400) //如果一页为1K大小

#define WRITE_START_ADDR ((uint32_t)0x08008000)//写入的起始地址

#define WRITE_END_ADDR ((uint32_t)0x0800C000)//结束地址

uint32_t EraseCounter = 0x00, Address = 0x00;//擦除计数,写入地址

uint32_t Data = 0x3210ABCD;//要写入的数据

uint32_t NbrOfPage = 0x00;//记录要擦除的页数

volatile FLASH_Status FLASHStatus = FLASH_COMPLETE;/*FLASH擦除完成标志*/

void main()

{

/*解锁FLASH*/

FLASH_Unlock();

/*计算需要擦除FLASH页的个数 */

NbrOfPage = (WRITE_END_ADDR - WRITE_START_ADDR) / FLASH_PAGE_SIZE;

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下面是一个基于KeilSTM32的HTOL芯片实验程序示例: ```c #include "stm32f10x.h" #include "stm32f10x_flash.h" #define FLASH_PAGE_SIZE ((uint16_t)0x400) #define FLASH_BANK1_START_ADDR ((uint32_t)0x08000000) #define FLASH_BANK2_START_ADDR ((uint32_t)0x08040000) #define HTOL_TEST_ADDR FLASH_BANK1_START_ADDR #define HTOL_TEST_DATA_SIZE 1024 // HTOL测试数据大小,单位为字节 #define HTOL_TEST_PATTERN 0xAA // HTOL测试数据模式 uint8_t htol_test_data[HTOL_TEST_DATA_SIZE]; void htol_init_test_data(void) { uint32_t i; for (i = 0; i < HTOL_TEST_DATA_SIZE; i++) { htol_test_data[i] = HTOL_TEST_PATTERN; } } int htol_test(void) { uint32_t i, j; uint16_t page_num; uint32_t start_addr; FLASH_Status status; // 初始化测试数据 htol_init_test_data(); // 擦除测试区域 FLASH_Unlock(); FLASH_ClearFlag(FLASH_FLAG_BSY | FLASH_FLAG_EOP | FLASH_FLAG_PGERR | FLASH_FLAG_WRPRTERR); status = FLASH_ErasePage(HTOL_TEST_ADDR); if (status != FLASH_COMPLETE) { FLASH_Lock(); return -1; } // 写入测试数据 start_addr = HTOL_TEST_ADDR; for (i = 0; i < HTOL_TEST_DATA_SIZE / FLASH_PAGE_SIZE; i++) { page_num = (start_addr - FLASH_BANK1_START_ADDR) / FLASH_PAGE_SIZE; if (FLASH_ErasePage(start_addr) != FLASH_COMPLETE) { FLASH_Lock(); return -1; } for (j = 0; j < FLASH_PAGE_SIZE; j += 2) { if (FLASH_ProgramHalfWord(start_addr + j, *((uint16_t *)(htol_test_data + i * FLASH_PAGE_SIZE + j))) != FLASH_COMPLETE) { FLASH_Lock(); return -1; } } start_addr += FLASH_PAGE_SIZE; } // 读出测试数据 start_addr = HTOL_TEST_ADDR; for (i = 0; i < HTOL_TEST_DATA_SIZE / FLASH_PAGE_SIZE; i++) { for (j = 0; j < FLASH_PAGE_SIZE; j += 2) { if (*((uint16_t *)(start_addr + j)) != *((uint16_t *)(htol_test_data + i * FLASH_PAGE_SIZE + j))) { FLASH_Lock(); return -1; } } start_addr += FLASH_PAGE_SIZE; } FLASH_Lock(); return 0; } int main(void) { // 执行HTOL测试 if (htol_test() == 0) { // 测试通过 while (1) { // do something } } else { // 测试失败 while (1) { // do something else } } } ``` 在该示例程序中,我们首先定义了HTOL测试的相关参数,包括测试数据大小和测试数据模式。然后,在程序开始执行之前,我们初始化了测试数据。接着,我们使用STM32Flash API实现了HTOL测试的核心逻辑,包括擦除测试区域、写入测试数据和读出测试数据。最后,我们根据测试结果判断测试是否通过,并执行相应的操作。 需要注意的是,HTOL测试会对芯片的Flash进行大量的读写操作,因此可能会对芯片的寿命产生一定的影响。在实际应用中,我们需要根据具体情况进行评估并谨慎使用。

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