如何测试芯片二极管特性?
1)测试目的:a. 检验芯片是否焊接正常;b. 检验芯片引脚是否损坏。
2)万用表设置:如下图,将万用表档位设置为二极管档,红表笔插入V/Ω孔,黑表笔插入公共COM孔。
3)测试原理
为了防止ESD损伤芯片,一般芯片内部各个引脚(除GND pin 或NC pin 外)都有对地二极管,简单的等效电路如下图所示:
利用二极管的正向导通性测试芯片各引脚二极管特性,假设二极管因为ESD 或高压被反向击穿造成损坏,那么芯片对应管脚一般表现为对地短路。
4)测试方法
将万用表红表笔接地,黑表笔连接芯片各个引脚,此时管子处于正向导通状态,万用表显示值即为芯片各个引脚的二极管特性。(注意,被测系统要断电处理)(若不能直接测试芯片引脚,可选择芯片引脚外部的测试点或者电阻、电容、电感、磁珠的对应点,需要靠近芯片处)
5)结果判断
a. 芯片本体正常或焊接正常,各个引脚(除GND pin 外)的测试结果应为0.3V-0.8V;
b. 测试结果若为OL,则芯片引脚为open 状态,芯片可能虚焊或引脚异常;
c. 测试结果若为0V,则芯片引脚对地短路,芯片可能焊接异常或引脚损坏;
以上三种测试结果供参考,若发现芯片pin 脚二极管特性异常,可与正常芯片进行对比。