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XDS200 是最新的 JTAG 系列 TI 处理器调试探针(仿真器)。XDS200 旨在提供良好的性能和最常见的功能，定位于低成本 XDS100 和高性能 XDS560v2 之间，是用于调试 TI 微控制器、处理器和无线器件的均衡型解决方案。

XDS200 适合取代老化的 XDS510 系列 JTAG 调试器，其具有更高的 JTAG 数据吞吐量、增加了对 ARM 串行线调试模式的支持并降低了成本。

XDS200 的所有型号均顺应在现代 TI 开发板上减小空间的趋势，为此提供标准的 TI 20 引脚连接器作为与目标之间的主要 JTAG 连接。此外，所有型号都提供针对 TI 和 ARM 标准 JTAG 接头的模块化目标配置适配器(提供的适配器因型号而异)。

XDS200 支持传统的 IEEE1149.1 (JTAG)、IEEE1149.7 (cJTAG) 以及 ARM 的串行线调试 (SWD) 和串行线输出 (SWO)，运行时的接口电平为 +1.5V 到 4.1V。

与传统 JTAG 相比，IEEE1149.7 或紧凑 JTAG (cJTAG) 有巨大的进步；因为它仅需使用两个引脚即可支持所有功能，可用于某些指定的 TI 无线连接微控制器中。

串行线调试 (SWD) 作为一种调试模式，也使用两个引脚，并且与 JTAG 相比能够以更高的时钟速率传输数据。串行线输出 (SWO) 多增加了一个引脚，此引脚允许对指定的 Cortex M4 微控制器执行简单的跟踪操作。

所有 XDS200 型号均支持通过 USB2.0 高速连接 (480Mbps) 连接到主机，某些型号还支持以太网 10/100Mbps。此外，某些型号支持对目标板进行功耗监控。

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