以下薄膜模拟使用薄膜测量网站 https://metro-film.online
50um 薄膜的非相干现象。
对于硅(Si)上 50微米厚度的二氧化硅(SiO2) 薄膜来说,通常有着非常密的干涉条纹
当探测器分辨率(在薄膜测量网站中是波长间隔参数)不够时,这些干涉条纹会消失,出现非相干现象,这时干涉条纹会消失,呈现出光滑的曲线。
如果我们逐渐减少波长间隔参数时,还会出现如干涉条纹逐步消失的现象。
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