动态聚焦扫描：TPU v5驱动的熔池缺陷概率实时计算与局域扫描技术

一、技术背景与核心需求

在激光增材制造（如SLM、LMD）与焊接领域，熔池动力学行为直接影响成形质量。传统熔池监测系统存在两大瓶颈：

1. 全局扫描效率低：固定视场导致大量计算资源浪费在无缺陷区域；
2. 缺陷检测滞后性：离线分析无法实现实时工艺调整，微小缺陷（<100nm）易漏检。

基于TPU v5的动态聚焦扫描技术通过实时计算缺陷概率分布，驱动熔池相机进行自适应局域扫描，在保证检测灵敏度的同时提升效率3-5倍。以下从技术架构、算法优化、硬件协同三个维度展开分析。

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二、技术实现路径与核心创新

1. 动态聚焦扫描系统架构