0.概述
在使用SPI协议对nor flash进行循环读写测试时,出现了偶尔会写入失败的问题。后续通过抓波形,对比官方手册的diagram,发现波形异常,后分析是因为中断函数影响了pp时序,导致写入失败。关闭中断后测试通过。
1.测试流程
测试的大致流程如下
1.擦除一个sector
2.在擦除的sector里,写入一个page的固定pattern数据。
3.将刚刚写的这个page数据读上来,校验是不是刚刚写入的pattern。
4.如果校验成功,则继续将这个sector后续的空间进行写入/读取操作;如果校验不成功,则报错退出。
2.测试现象
1.在随机对单个的一个sector进行读写测试时,测试是通过的。
2.在进行压力测试,即写了一个for循环,不停的对整盘片进行读写擦测试。则在测试若干个sector后,出现了写入失败的情况,整个page数据全部未写入固定pattern,而是全为0.
3.在2的测试方法下,降低nor flash操作的clk频率,测试发现不再出现错误。
3.原因分析
从测试现象可以发现,单次操作是正常的,说明写的驱动代码并无问题。因此为了查看为什么会测试出错,用示波器抓了一下测试正常和测试异常的波形图。如下。