中断问题导致Nor flash写异常分析

0.概述

        在使用SPI协议对nor flash进行循环读写测试时，出现了偶尔会写入失败的问题。后续通过抓波形，对比官方手册的diagram，发现波形异常，后分析是因为中断函数影响了pp时序，导致写入失败。关闭中断后测试通过。

1.测试流程

        测试的大致流程如下

        1.擦除一个sector

        2.在擦除的sector里，写入一个page的固定pattern数据。

        3.将刚刚写的这个page数据读上来，校验是不是刚刚写入的pattern。

        4.如果校验成功，则继续将这个sector后续的空间进行写入/读取操作；如果校验不成功，则报错退出。

2.测试现象

        1.在随机对单个的一个sector进行读写测试时，测试是通过的。

        2.在进行压力测试，即写了一个for循环，不停的对整盘片进行读写擦测试。则在测试若干个sector后，出现了写入失败的情况，整个page数据全部未写入固定pattern，而是全为0.

        3.在2的测试方法下，降低nor flash操作的clk频率，测试发现不再出现错误。

3.原因分析

        从测试现象可以发现，单次操作是正常的，说明写的驱动代码并无问题。因此为了查看为什么会测试出错，用示波器抓了一下测试正常和测试异常的波形图。如下。

fig1.正常写入的波形图(上方蓝色为SCLK信号，下方紫色为data信号)

fig2.写入异常的波形图(上方蓝色为SCLK信号，下方紫色为data信号)

        再来看一下nor flash的数据手册里PP(Page Program)的diagram

        可以清楚的看到，在数据手册的PP diagram当中，8bit的command后紧跟着就是24bit的address，二者在时序上是紧挨着的，期间SCLK信号是连续的。

        而我们出错时候的波形图(fig2)，明显可以看到cmd和address是不连续的，因此nor没有正确的识别出来这一笔PP命令，所以没有写入成功。

4.解决方法

        通过对代码的走读，发现一个用来记录时间的中断没有关闭，此中断为定时器中断，每隔极小一段时间就会触发，中断处理函数会更新当前时间。因此在压力测试读写擦的过程中，极容易在某一笔PP命令的中间触发了定时中断，将原本PP的时序打乱。

        在操作Nor flash时，将中断关闭，再进行压力的读写擦操作，发生错误的现象就不再产生。问题得以解决。

        至于一开始测试时，将测试的SCLK频率调低，不出现测试失败的原因，应当是由于每个SCLK的周期时间变长了，定时中断触发处理完中断函数后，还没有到达影响flash操作的时序。即定时中断处理的流程被包在了某一个操作时序的低电平或高电平的持续时长中，因此不发生时序错误。