扫描电镜对获得厚试样表面图像非常有用。在扫描透射模式(STEM)中,SEM也可以用来研究薄试样,在这方面比传统TEM有一些优势。
[1] T. Qureishy (2012), Synthesis andstructural studies of Mg2Si1-xSnx. Department of Physics, University of Oslo.
[2] B. B. Straumel, S. G. Protasova, A. A.Mazilkin, T. Tietze, E. Goering, G. Schütz, P. B. Straumal and B. Baretzky (2013),Ferromagnetic behaviour of Fe-doped ZnO nanograined films, Beilstein J.Nanotechnol. 4, 361-369.
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