透射电子显微镜（TEM）是利用电子束进行高分辨率成像的科学仪器。1933年由卢斯卡和克诺尔发明，TEM的分辨率已达到亚埃级别。其分辨率受电子波长、孔径角和介质折射率影响，远高于光学显微镜。TEM分为高分辨透镜、透射扫描电镜和分析型电镜等类型，广泛应用于科学研究。照明系统由电子枪和聚光镜构成，负责提供高亮度、高相干性的光源。
一：透射电镜的简介
1.1概念及简史
概念：透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，TEM）是以波长极短的电子束作为照明源，用电磁透镜聚焦成像的一种高分辨本领、高放大倍数的电子光学仪器。 简史： 1933年，德国科学家卢斯卡（Ruska）和克诺尔（Knoll）研制出了世界上第一台透射电镜，到今天，透射电镜已经诞生了70多年，由电镜应用而形成的交叉性学科——电子显微学已经日趋完善，电镜的分辨能力也比最初时提高了超过100倍，达到了亚埃级，并且在自然科学研究中起到日益重要的作用。
1.2分辨率：为什么采用电子束做为光源?
1.2.1自然光与电子束的波长 可见光的波长在390～760nm 电子波长：
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