【Proteus仿真】51单片机过零检测触发控制光耦+可控硅调光电路

本文介绍了如何使用51单片机通过Proteus仿真实现过零检测触发控制光耦及可控硅调光电路。在电路搭建中,强调了整流桥负极端接地的重要性,以避免仿真错误。同时,提供了程序代码及相关仿真资源。

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【Proteus仿真】51单片机过零检测触发控制光耦+可控硅调光电路


  • 📺Proteus仿真实验1截图

在这里插入图片描述

可以进行仿真,但是没有预期的效果。

✨需要注意,在Proteus模型库中没有MOC3061型号的带过零检测功能的可控硅输出光耦,普通的例如MOC3021/MOC3052不带过零点检测功能。

  • 🍁过零点检测功能配合单片机控制原理参考:
    在这里插入图片描述
  • 📺Proteus仿真实验2截图:
### 单片机实现100Hz过零点检测方法 对于50Hz的正弦交流电而言,每次电压波形穿越零点都会产生一个同步信号。由于交流电在一个周期内会有两次过零事件(上升沿和下降沿),因此实际产生的过零脉冲频率为输入电源频率的两倍,即100Hz[^1]。 为了准确捕捉这些过零时刻,在硬件设计上通常会采用光耦合器隔离市电与控制系统之间的连接,从而提高系统的安全性及抗干扰能力。同时,为了避免误触发现象的发生,建议选用具有一定滞后的电压比较器作为过零判断元件,并适当调整前端分压网络参数以确保输入到比较器两端的直流偏置处于合理区间内[^2]。 软件部分则主要依赖于外部中断机制来完成对过零点位置的识别工作。每当单片机接收到由上述电路传来的有效边沿变化时便会触发一次ISR (Interrupt Service Routine),在此期间可以记录当前计数值或重装载定时器初值以便后续计算延时时间长度。值得注意的是,考虑到不同应用场景下可能存在的相位差异等因素影响,编程者还需要仔细校准好初始状态下的基准参考点,使得最终输出效果更加稳定可靠。 ```c // 假设使用 STM32 系列 MCU 并配置 TIM2 用于测量 void EXTI0_IRQHandler(void){ if(__HAL_GPIO_EXTI_GET_IT(GPIO_PIN_0)!= RESET){ __HAL_TIM_SET_COUNTER(&htim2,0); // 清除TIM2 计数寄存器 HAL_GPIO_TogglePin(LD2_GPIO_Port, LD2_Pin); // LED指示灯切换状态 __HAL_GPIO_EXTI_CLEAR_IT(GPIO_PIN_0); } } ``` 此代码片段展示了如何利用STM32系列微控制器中的EXTI模块配合GPIO端口捕获来自过零检测电路发出的脉冲序列,并据此初始化内部定时器资源准备进入下一个阶段的操作流程中去[^3]。
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