信号采集系统设计要点

信号采集系统设计要点

背景

ADC系统设计的要点，我想了一堆，感觉没逻辑，所以想着写一写。

一些说明

1、这个文章基本是我个人的思考，认真说来，每句话都应该找到出处不能乱说，但这样太累了，也不是能很快完成的，争取在以后补充完整。
2、如果有读者的话，希望你能批判着看待本文章的观点。
3、暂时只考虑中低频率信号的采样，因此在高速采样系统中有些说法不能沿用。

目录

（时隔数日继续写这篇文章，发现思路全无，有必要加一个目录）
1、系统整体的考虑：关注输入输出；
2、系统局部的考虑：ADC、运放等自身参数对采样系统的影响。

系统整体的考虑

一、信号源

对于一个信号采集系统而言，信号源有两个——信号输入、参考电压（有参考电流的吗？）——这两者是同样重要的。作为设计者需要考虑这两个信号源的大小、稳定性等。
1、大小：
含义是比较信号输入、参考电压、系统供电电压的大小，并进行合理的电压值选择、信号的放大与缩小等操作。进行这种比较源于两个方面考虑：一是ADC（模数转换器）的硬件需要，二是采样系统的一般特性。
一般而言，信号输入不能超过参考电压并且参考电压不能超过系统供电电压（ADC正常工作的要求），但也要追求尽量大。原因在于采样系统中包涵一部分“固有噪声”，如电阻热噪声、外部干扰噪声等，尽量大的信号源电压有利于抑制这部分噪声对模数转换的影响（采样系统的一般特性）。

举一个例子：使用STM32将一个0~20mV的信号采集下来，有些STM32支持VREF独立输入，有些为了减小封装尺寸使用VDDA作为VREF输入。STM32的外围电路中，VDDA与VDD使用同一个电源（3.3V），因此VREF不能超过3.3V，并且不能低于VDDA超过1.2V。如果系统采样精度要求不高（可以笼统的理解为不需要知道确切的采样值，只知道采样范围的场景），可以将VDDA经过LC滤波接到VREF管脚；系统采样精度要求高，则使用3.3V或者3V的电压基准源供电。

假设VREF选择3V供电，就需要将输入信号的幅值范围由0~10mV放大到0 ~3V的范围，这时候就需要一个同相放大器将信号放大300倍。

2、稳定性
我这里所说的稳定性是一种通俗的概念，是我刚接触信号采集时直观感觉，它包括了“测量精度”、“温漂”、“信号带宽”这些概念。

1、精度
测量精度是一个测量系统的核心概念，是这个利益相关方最常询问的概念，特别是项目进展不顺利时，他们会从各个方面指点你如何提高精度。但作为设计者，你需要明白测量系统中各个参量之间是如何影响精度的，这里只讨论信号源对测量精度的影响。

AD转换中最重要的公式
$$D=(Vin/VREF)\ast 2^n$$
D为转换后的数字量，Vin为输入信号幅值，VREF为参考电压，n为转换位数，为ADC器件固有值，决定ADC的分辨率。理论上讲，Vin、VREF、n都将影响系统精度。

n决定系统的精度极限，采样系统的精度不可能低于系统分辨率；Vin对系统噪声的影响是xxxx（此处没有找到一个合适的词，多样的？复杂的？），是最难以优化的部分。我对VREF的认识就是选择基准源，系统要求高就选噪声小的。

其中涉及的计算以后详述。

2、温漂
系统是工作在工况环境的不是实验室环境，温漂需要考虑，这也是模拟系统误差的主要来源。凡是模拟信号链路中的器件都考虑就没有问题了，器件规格书中都会说明温漂的。

3、信号带宽
输入信号的带宽影响很多设计要点——ADC的速度、模拟前端的滤波参数、运放的增益等。

二、目标输出

对待输出，主要考察两个内容：输出信号的信噪比以及失真。

1、信噪比
一个信号的信噪比表示为：
$$SNR(dB)=10lg(Psignal/Pnoise)$$
信号经过采样系统，有可能将信噪比改善，也有可能恶化。原因在于当一个采样系统确定以后，其自身对信号附加的噪声与滤除的噪声可以认为是固定的，关键就在于输入的信号是否与调理系统相匹配。

2、失真
输出信号波形相对于输入信号波形出现的畸变，即为失真。失真的具体现象非常多，主要有：顶部/底部失真、过冲/下冲、无法跟随、相位反转。