大话EMC电磁兼容设计和学习笔记（二）差模传导性和差模共模混合抗扰度测试实质

差模传导性抗扰度测试实质

在EMC（电磁兼容性）测试标准中，低频的传导性抗扰度测试通常以差模为主。这类测试包括：

• 国军标GJB 152A中的CS101、CS106测试
• IEC61000-4-5标准规定的线对线浪涌测试
• ISO7637-2标准中的P1、P2a、P2b、P4、P5a、P5b脉冲抗扰度测试

原理

差模传导性抗扰度测试的原理非常简单：在测试过程中，将差模干扰电压直接叠加在正常工作电路上，然后观察电路是否能够正常工作。由于这些测试通常都是低频且针对瞬态干扰的，因此寄生参数对低频信号传输的影响较小，传递干扰路径的分析也相对容易。

差模共模混合的传导性抗扰度测试实质

差模共模混合的传导性抗扰度测试在EMC测试中占有重要地位。这种测试不仅涉及差模干扰，还包括共模干扰的影响。在传导性抗扰度测试中，既进行差模测试，又进行共模测试，或在差模过程中有共模干扰直接注入到产品被测端口上。

典型测试

• ISO7637-2标准中的P3a、P3b脉冲抗扰度测试：这种测试涉及干扰通过接地线或EUT（被测设备）、电缆与参考地之间的寄生电容回到参考接地板上。不管产品是否直接安装在车架上，干扰都会影响。
• ISO7637-2标准中对于直接安装在车架上的产品的P1、P2a、P2b、P4、P5a、P5b脉冲抗扰度测试：这种测试也是差模共模混合的传导性抗扰度测试。即使干扰源是低频的，由于被测产品与参考接地板之间存在接地线，干扰电流会流向参考接地板。
• IEC61000-4-5标准中的浪涌测试：这项测试是低频EMC测试，浪涌信号以差模和共模形式叠加在被测产品的正常工作信号上。这项测试的大部分能量分布在数十千赫，但其高能量使得被测设备可能发生误动作甚至器件损坏。

频域分析

浪涌测试虽然是低频测试，但由于微秒级的上升时间，频域上大部分能量集中在数十千赫。测试过程中，干扰信号叠加在正常工作信号上，分析相对容易，不需要考虑太多的寄生参数。

结论

差模传导性抗扰度测试和差模共模混合的传导性抗扰度测试在EMC测试中是评估电子设备抗扰性能的重要方法。理解和掌握这些测试原理和方法，可以有效提高电子设备在复杂电磁环境中的抗干扰能力，确保其可靠性。