一、芯片资料
1)24位分辨率,差分输入,采用REF5025基准。
2)引脚控制,双通道,A0进行选择,DOUT配置不能为模拟输入,其他3个都可以,仅针对AD测试板。
3)AD基准电压/2^24-1,然后乘以AD返回值。
二、数据格式
输入信号Vin(AINP-AINN) | 理想输出 |
---|---|
≥±0.5Vref/GAIN | 7FFFFFh |
(+0.5VREF/Gain)/(223 – 1) | 000001h |
0 | 000000h |
(–0.5VREF/Gain)/(223 – 1) | FFFFFFh |
≤ –0.5VREF/Gain | 800000h |
三、数据时序图
DOUT下降沿触发读取数据开始标志,SCLK变高正式开始获取数据。在t7时间内必须读取所有数据,因为在t6时间内不能读取数据,t6是数据更新时间,t6之前要保持DOUT拉高,所以在Figure35中可以看到读取完最后一个数据之后强行拉高DOUT。
四、误差消除
任何时候都可以进行误差校准。这个过程需要至少需要2个SCLK,第25个SCLK会把DOUT拉高,然后在第26个SCLK的下降沿触发校准,校准期间尽量减少SCLK的活动,校准完成以后,