机器学习考试总结

本文总结了机器学习考试中的核心概念,包括过拟合、欠拟合的定义及其对策,错误率、精度、查准率、查全率等评估指标,以及训练集、测试集的划分方法。还涉及P-R曲线、ROC曲线、AUC曲线,线性回归、决策树的选择策略,以及神经网络和SVM防止过拟合的手段。此外,文章涵盖了朴素贝叶斯分类器、集成学习、降维方法、监督学习和无监督学习的区别,以及L1和L2范数正则化的应用。
摘要由CSDN通过智能技术生成

概念掌握

1.过拟合、欠拟合

  • 过拟合:本来应该学习训练样本中的普遍规律,以便在遇到新样本的时候能够做出正确的判别。但是因为学习器学的太好了,把训练样本中自身的一些特点当作了样本会具有的一般性质,导致了泛化能力的下降。通常由于学习器的学习能力过于强大,所以各类算法一般都带有针对过拟合的措施。过拟合无法避免
  • 欠拟合:通常由于学习能力低下造成,没有学到样本的普遍规律。神经网络可以通过增加训练轮次、决策树可以扩展分支来进行克服。

2.错误率、精度、查准率、查全率,测试集、验证集、训练集,留出法、交叉验证法

  • 错误率:分类错误的样本占样本总数的比例。如在m个样本中有a个样本分类错误,则错误率E:
    E = a m E = \frac{a}{m} E=ma
    对于样例集D,分类错误率定义如下:其中Ⅱ(·)为指示函数,在 ‘·’ 为真和假时分别取值1,0
    E ( F ; D ) = 1 m ∑ i = 1 m Ⅱ ( f ( x i ≠ y i ) ) E(F;D) = \frac{1}{m} \sum_{i=1}^{m}Ⅱ(f(x_{i} ≠y_{i} )) E(F;D)=m1i=1m(f(xi=yi))
    对于数据分布D和概率密度函数p(·),错误率定义如下:
    E ( F ; D ) = ∫ x ∼ D Ⅱ ( f ( x ) ≠ y ) p ( x ) d x E(F;D) = \int_{x\sim D}^{}Ⅱ(f(x)≠y)p(x)dx E(F;D)=xD(f</

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