阻抗是测量系统中衡量电路如何阻碍电流的指标。它是电阻,电容和电感共同作用的结果。在理想系统中,ADC具有无限阻抗。实际上,情况并非如此。它们只是具有非常高的阻抗。
但有时ADC测量的源也可能具有高阻抗。这种高源阻抗会导致ADC的测量电压明显下降,并引起测量不准确的问题。
阻抗可以影响系统的另一种方式是传输线阻抗。当连接两个系统时,如果一个系统的阻抗远高于或低于另一个系统,则可能导致信号反射。
例如,与NI卡的输入阻抗相比,如果多路复用系统由具有高源阻抗的源驱动,您可能会看到来自一个扫描通道的电压反映在另一个扫描通道上。为了消除这些反射,应匹配源阻抗和输入阻抗。
如果您从高阻抗信号源采集数据,增益误差可能会影响您的电压数据。
NI DAQ 设备具有高内部阻抗,以确保捕获绝大多数电压降,但建议在使用高阻抗信号源时采取额外的预防措施。
信号源,例如传感器,具有内阻和输出电压源。
当信号源的内阻值相对于 DAQ 设备的内阻较大时,它会扭曲 DAQ 设备内出现的压降,从而歪曲信号数据。
下图显示了当 DAQ 设备连接到具有不同阻抗水平的信号源时如何发生这种情况。
在上图中,DAQ 设备从低阻抗信号源 (1Ω) 采集数据。在这种情况下,该内阻会在传感器内产生相当微不足道的压降 (0.001V),因此大部分压降发生在 DAQ 设备内 (9.999V)。结果,显示的电压值符合预期。
在下图中,DAQ 设备从高阻抗信号源 (10kΩ) 采集数据。如此大的内阻会导致传感器内出现局部电压降 (5V)。因此,DAQ 设备内的电压降仅为 5V,并不能代表原始信号。这种类型的误差称为“增益误差”。
在NI M系列DAQ设备中,输入阻抗设置为10GΩ,大大降低了增益误差的可能性。尽管如此,当从高阻抗信号源采集数据时,请考虑其他因素,例如稳定时间,也可能影响数据采集。