IC验证-寄存器专项测试

文章介绍了寄存器验证中的关键点,包括默认值验证、寄存器间的粘连验证和比特位粘连验证。寄存器验证方法包括读写测试,如随机值测试、位粘连测试、位翻转测试和位边界测试,以及五步法,确保寄存器的独立性和正确性。这些步骤对于确保数字系统的稳定性和功能完整性至关重要。

一.三个概念

关键点:对粘连的理解和验证

1、寄存器默认值的验证

DUT初始化后,读取寄存器值,判断读取的值是否等于设计时所配置的初始值,不等则证明寄存器有错。

2、寄存器之间是否有粘连的验证

通常,对一个寄存器进行赋值,不会影响到其他寄存器值,但是当发生寄存器之间的粘连时,寄存器之间就不再有独立性,对其中某个寄存器进行赋值操作,就会影响到其他寄存器的值。

通常是写入0x01(<<1)后读出0x10,以此类推。

3、同一寄存器中比特位之间的粘连

通常,对一个寄存器中某一位进行置位或清零操作,不会影响到其他比特位,但是当发生寄存器内部比特位之间的粘连时,比特位之间的独立性就不存在了,对其中某个位进行置位或清零操作,就会影响到其他比特位的值 。

二.寄存器验证方法

以RW寄存器为例

方法一

1.读测试(默认值测试)

读出的值应该为默认值,否则为默认值设置错误,默认值错误有时会引起一些莫名其妙的错误

2.读写测试

(1). 随机值测试,随机一个寄存器值然后读出进行比对;

(2). 位粘连测试,采用00….001和11…110进行移位操作写入读出对比测试防止寄存器某些bit位粘连;

(3). 位翻转测试,写0x55…555(0101…0101) 、0xaa…aaa(1010…1010),读出比较;

(4). 位边界测试,写00…00,fff…ff(1111…1111)读出比较

方法二 五步法(其实两种方法是一样的)

1.测寄存器的value

一.对所有寄存

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