问题描述
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
解决思路:最为主要是如何判断出芯片如何是真芯片还是假芯片,这里我们可以针对二维数组的每一列来看,若该列的数字1大于n/2,则该芯片为好芯片。
import java.util.Scanner;
public class Main {
public static void main(String[] args) {
Scanner sc=new Scanner(System.in);
int n=sc.nextInt();
int [][]arr=new int[n][n];
for(int i=0;i<n;i++) {
for(int j=0;j<n;j++) {
arr[i][j]=sc.nextInt();
}
}
//2如果对一个芯片的测试中1的个数多余n/2,那么他就是一个真芯片,即该列中1的总个数
//从二维数组中的列中去看
int j=0;
while(j<n) {
int sum=0;
for(int i=0;i<n;i++) {
if(arr[i][j]==1) {
sum++;
}
}
j++;
if(sum>n/2) {
System.out.print(j+" ");
}
}
}
}